中古 KEITHLEY 4200-SCS/F #293645289 を販売中

KEITHLEY 4200-SCS/Fは、高度なシステムレベルの半導体の特性評価および分析テストソリューションです。このマルチパラメータテストステーションには、KEITHLEY 4200 SCS/F機能を備えた4ポジションパラメトリックテストステーションがあり、各イテレーションで複数のデバイスを迅速に特性評価することができます。このシステムは、さまざまな電気源、メーター、および信号アナライザの任意の組み合わせに簡単に接続することができ、半導体デバイスの高度な特性評価と分析を提供します。これは、高度なベンチトップ制御とデータ処理機能を備えた最新の計装性能を提供するように設計されています。この包括的なソリューションは、電流電圧（I-V）および容量電圧（C-V）パラメータを測定する機能を提供します。また、高精度アナログおよびパルス幅変調（PWM）スイッチングと低レベル電圧シフトを備えており、低レベルのデバイスパラメータを正確に測定および分析します。自動テストシーケンスとデータ収集機能も利用可能で、エンジニアはテストプロセス全体を自動化できます。4200 SCS/Fには、複数のデバイスを簡単に設定、監視、測定するさまざまなオプションが付属しています。これらのオプションには、高解像度のグラフィカル出力と、オシロスコープ、スペクトラムアナライザ、ネットワークアナライザなどのさまざまな高速アナログ測定器が含まれます。高度なオートメーションオプションにより、正確で反復可能な結果を保証し、セットアップ時間を最小限に抑えます。イーサネット接続により、テストデータへのアクセスと管理、リモートコントローラの操作の共有、あらゆる条件のデータのエクスポートが簡単に行えます。また、4200 SCS/Fは、安全でエラーのない環境を確保するための優れた安全機能を提供します。これらの機能には、過電圧保護、調整可能な電流リミッター、および高度なフォルト保護が含まれます。ユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスにより、ユーザーはテスト条件を簡単に監視し、ライブテスト結果を表示してレポートを生成できます。全体として、KEITHLEY 4200 SCS/Fは、テストを簡素化し、効率を向上させるための高度な機能を備えた高度なシステムレベルの半導体の特性評価および分析テストソリューションです。このテストステーションは、最新の半導体デバイス開発および生産環境のニーズを満たすように設計されており、エンジニアと技術者が最高レベルの精度でデバイスを迅速に測定および分析することができます。