中古 HUGHES 1177H01R000 #9254779 を販売中

HUGHES 1177H01R000は、さまざまな試験機能に適した電子試験装置です。自動化されたシステムで使用でき、幅広い電子部品、アセンブリ、システムの信頼性の高い診断、修理、トラブルシューティングを可能にする、互換性の高いオールインワンテスト機器です。1177H01R000は複数の言語で強力な診断を提供します。これは、結果の解釈を容易にし、電子部品やアセンブリのすべてのタイプの詳細な診断を提供するユーザーフレンドリーなインターフェイスを持っています。内部診断モジュールは、コンポーネント、アセンブリ、および機器の情報を保存および追跡し、迅速な修理とダウンタイムの削減を可能にします。この機器には、トラブルシューティング情報と体系的なトラブルシューティング技術の総合ライブラリもあります。HUGHES 1177H01R000にテストされる広い部品およびアセンブリとの柔軟性に一致させる堅牢な性能および機能があります。動的波形測定やリアルタイム解析など、最新の試験技術で設計されており、試験精度と信頼性を高めています。また、低レベル信号によるシステムおよび直接測定にも対応しています。1177H01R000は正確な試験精度を提供し、事前仕様スレッショルドによる波形歪み追跡や高精度パルス測定などの高度な測定能力を備えています。波形の異常、故障の傾向、およびコンポーネントの性能を識別できるデータ解析により、潜在的なテストエラーを低減します。HUGHES 1177H01R000は、テスト結果をReference Waveformsおよび/またはデータシート仕様と自動的に比較することにより、信頼性の高い結果を提供します。また、通常はデバイス回路に関連付けられていないパラメータを検出することもできます。これらの機能は、デバイスを構築してデプロイする前にトラブルスポットを検出するように設計されています。1177H01R000には、FFT、パルス幅変調（PWM）、パルス振幅変調（PAM）、周波数応答（FEM）、波形解析（WA）などの高度な解析ツールも含まれています。これは、問題を特定し、機器の欠陥や運用上の問題を排除するのに役立ちます。HUGHES 1177H01R000は、電子ベンチやテストユニットに最適なさまざまな機能を提供しています。それは複雑で、信頼でき、正確なテストを装置および機械製造業者に与えることができます。汎用性が高く、機能テストと故障解析の両方でさまざまな環境で使用できます。これにより、デバイスおよびツールメーカーは、問題を診断し、最高の最終製品のより正確な測定を策定することができます。