中古 HORIBA / STEC SEC-Z544JX #293661242 を販売中

HORIBA/STEC SEC-Z544JXは、研究、エンジニアリング、生産試験のための様々なアナログおよびデジタルパラメータを測定するために設計された電子試験装置です。さまざまなテスト環境とパフォーマンス基準で動作する制御入力信号を提供します。そのコンパクトで軽量なデザインは、さまざまな場所でのテストに便利です。STEC SEC-Z544JXは、優れた解像度、精度、周波数/位相安定性、および温度係数を提供するために、高度で特許取得されたNIRRO Freescale 32ビット12ビット単/デュアルチャネルと同時データ収集回路を備えています。広帯域アナログ入力によるDC/low周波数の測定が可能で、内蔵フィルターによる優れた信号処理機能により、ノイズや不要な周波数コンポーネントを低減します。測定のための入力範囲は、低電圧から高電圧、電流、電力、および温度まで許容されます。また、調整可能なサンプリングレートを提供し、低周波から高周波までのスキャン周波数をサポートします。HORIBA SEC-Z544JXは、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを備えており、テストパラメータを素早く簡単に設定できます。これは、簡単なナビゲーション、プログラミング、および実験データ収集を可能にする統合された赤外線バックライト付きディスプレイで設計されています。高度なノイズフィルタリング技術により、騒音環境のパラメータを正確に評価できます。デュアルチャネルの周波数と位相を同時に測定することで、優れた精度と解像度を実現します。SEC-Z544JXには、プログラマブルロジックコントローラ、トランスデューサ、センサー、アクチュエータ、スイッチなどの幅広い周辺機器があり、テストのための完全なソリューションを提供しています。複数の入力と出力を備えており、異なるスイッチングレベルとアナログ信号をサポートして複数のデバイスを制御します。その熱印刷とグラフ機能は、優れたレポート精度と印刷品質を提供します。HORIBA/STEC SEC-Z544JXには、あらゆる試験アプリケーション要件を満たすためのさまざまな機能があります。正確な測定、優れた速度と信頼性、効率的なデータ処理を提供します。その直感的なインターフェイスは、データにすばやくアクセスし、テストパラメータをセットアップするのに役立ちます。軽量設計で様々な場所でのテストに便利です。高度なノイズフィルタリング技術により、ノイズに満ちた環境で信頼性の高い試験結果を得ることができます。柔軟な周辺接続と調整可能なサンプリングレートにより、さまざまな試験アプリケーションに対応する理想的なソリューションです。