中古 HORIBA STEC SEC-Z514MGX #293626786 を販売中

HORIBA STEC SEC-Z514MGXは、パワー半導体の性能をテストおよび分析するために設計された電子試験装置です。SEC-Z514MGXは、高精度の制御と測定、および電源シミュレータ、データロギング機能、プログラム可能なゲート電流、およびゲート電圧などの追加機能を備えています。HORIBA STEC SEC-Z514MGXは、高度なPWM電源変換システムと革新的なデジタルアーキテクチャを採用し、パワー半導体の性能を正確かつリアルタイムに測定します。また、SEC-Z514MGXは正の変位非接触センサを備えており、手動接触試験プローブの必要性を排除し、高度な電流センサを必要とせずに正確かつ再現可能な測定を提供します。また、HORIBA STEC SEC-Z514MGXには、他の電子試験機器に類を見ない高感度ゲート電流測定機能が搭載されています。ゲート電流測定範囲は10nA〜10Aで、電流分解能は0.02v/Aです。さらに、ゲート電圧測定範囲は0。5v〜300vで、解像度は0.02Vです。強力な測定機能に加えて、SEC-Z514MGXはパワー半導体デバイスのテストに不可欠な幅広いプログラマブル制御機能を提供しています。これらの機能の中には、タイマー、パルスジェネレータ、およびPWM信号ジェネレータが内蔵されています。このタイマーにより、HORIBA STEC SEC-Z514MGXのタイムドオペレーションが可能になり、パルス発生器はパワー半導体デバイスを簡単かつ簡単に制御できます。内蔵のPWM信号ジェネレータは、ハードディスクドライブと光ディスクドライブのテストに特に役立ちます。SEC-Z514MGXは32ビットRISC型プロセスで設計されており、超高速動作を実現できる高速処理を実現しています。プロセッサには、セルフテスト機能、データログ、組み込み校正など、いくつかの診断ツールもあります。これらの特徴から、堀場ステックSEC-Z514MGXは様々なパワー半導体デバイスの試験・解析に適した汎用性の高い電子試験装置です。SEC-Z514MGXにゲートの運転、リレー出力、IGBTのゲートの運転、遠隔表示およびデジタル出力のような出力機能の広い範囲が、あります。また、ブリッジ励起、トーン生成、パルスシェーピングなど、幅広い信号調整機能を備えています。これらの機能により、正確なデータ取得とテスト結果が保証されます。HORIBA STEC SEC-Z514MGXはグラフィカルユーザーインターフェイスも備えており、非常にユーザーフレンドリーです。SEC-Z514MGXには、過電流保護、逆抵抗モニタリング、外部電源カットオフなど、多くの安全機能があります。さらに、この電子試験装置は、IEC60793、 EMC、 FCC、 ULなど、いくつかの産業規格に準拠しています。全体として、HORIBA STEC SEC-Z514MGXは、パワー半導体の性能をテストおよび分析するために設計された先進的な電子試験装置です。この非常に汎用性が高くユーザーフレンドリーなデバイスは、高感度ゲート電流と電圧測定の選択だけでなく、さまざまなプログラマブルおよび診断機能を備えています。SEC-Z514MGXは、さまざまな安全性とコンプライアンス機能も備えており、高精度の測定とテストに最適です。