中古 HEWLETT-PACKARD XP 24000 #9196782 を販売中

HEWLETT-PACKARD XP 24000は、従来の試験システムと比較して約2倍高精度で高速な試験機能を提供する電子試験装置です。本番ユニットの故障を迅速に特定し、全体的なテストサイクル時間を最適化するために、本番環境で使用するように設計されています。XP 24000は、完全なハイカバレッジテスト機能と、最大4チャネルのテストリソースを提供するモジュラーハードウェアフレームを備えています。また、実用的なテスト問題の原因を特定するための非常に広いダイナミックレンジ解析機能を提供し、ユーザーは面倒なコンポーネントや回路をすばやく分離してデバッグすることができます。さらに、機能依存のテストアーティファクトを取り消すためのプログラム可能なデ埋め込みプロセッサを内蔵しており、より正確で信頼性の高い結果を提供します。また、同じシーケンスで複数の波形を操作できる最先端の高性能シグナルジェネレータも備えています。このジェネレータは、広い周波数範囲で非常に正確で安定な波形を生成するための様々な変調技術をサポートしています。組み込みの周波数ホッピング試験方法は、ユーザーが特定のテストに最適な信号パラメータをすばやく特定し、時間とコストを節約するのに役立ちます。また、キャリブレーション機能が強化されているため、オペレータはHEWLETT-PACKARD XP 24000のネイティブ機器の精度をシステムレベルに拡張できます。これにより、一貫した信頼性の高いパフォーマンスと迅速な校正時間が保証されます。その他の校正機能には、同期校正モード、自動ハードウェア駆動校正、自動化されたデジタル設定校正などがあります。XP 24000はまた、テストデータの保存、取得、分析に使用できる広範なデータストレージ機能を提供します。FIFO（ファースト・イン・ファースト・アウト）バッファ機能により、無制限のテスト結果を記録して即時アクセスとレビューを行うことができます。また、CRT（陰極線管）ディスプレイを内蔵しており、試験結果の迅速かつ簡単な分析と解釈が可能です。HEWLETT-PACKARD XP 24000は、高速かつ正確なテストデータ解析と故障分離機能を提供する高度なテストシステムです。高速信号生成、フルハードウェア、ソフトウェア駆動のキャリブレーション、データ表示用の統合型CRTディスプレイなど、さまざまな高度な機能を備えたXP 24000は、生産試験アプリケーションに最適です。