中古 FURUKAWA S175 #9105842 を販売中
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ID: 9105842
Splicer
Silica glass based optical SM / MM/ DSF fibers
Coating / Clad Dia: 0.25-0.9mm / 0.1-0.15mm
Cleave Length: standard 16mm optional 10mm
Average loss:SM: 0.02dB MM: 0.01dB DS: 0.04dB(with identical Furukawa fibers)
Reflection: -60dB or lower
Estimation accuracy: +/- 0.05dB (loss <0.4dB), +/- 15% (loss>0.4dB)
Operating time: Splice: 20s (typical),Heat: 90s (typical for S921)
Tension test: 200g (0.4lbs), option 440g (0.9lbs)
Attenuation splice: 0 to 10 db by 0.1 db
32 Splice Program with one Auto splice mode 4 pre-programmed. 28 customisable
Inspection: Cleave angle, Fibre end gap, core eccentricity, offset, tilt, micro bending, Bubble at spliced point
Display information: operating message, ARC counter, clock, heater status, estimation loss, finder image X Y view.
FURUKAWA S175は、古河電機が開発した高性能電子試験装置です。Ltd。(株)この電子試験装置により、エンジニアや技術者はデバイスのパラメータを迅速かつ正確に評価することができます。S175は、複数のテストシステムで同時にテストを行うことができる高度なテストシステムです。これにより、ユニットはさまざまなパラメータにわたって同じデバイスの多数の読み取りを行うことができます。これにより、より正確な読み取りを低コストで行うことができるため、コストのかかる交換の必要性が低減されます。FURUKAWA S175は、さまざまな測定および制御機能を備えています。そのオペレータインターフェイスは、メニューオプションをナビゲートするときにユーザーフレンドリーな経験を提供します。これらの機能は、半導体デバイス試験に必要な複雑な試験手順などに役立ちます。S175は統合された強力なコンピューティングで設計されており、テストを迅速かつ効率的に実行できます。自動化された解析と結果の表示により、必要な手作業が削減され、テスト分析とデバッグの両方の効率が向上します。これにより、自動化された生産ラインや研究開発での使用に最適です。FURUKAWA S175は、デジタルやアナログなど、さまざまな出力ポートを内蔵しており、さまざまなデバイスに簡単に接続することができます。これにより、さまざまな種類のテストデータを収集、保存、分析することもできます。例えば、S175はタイミングや信号特性などのクロスカットデータを追跡して保存することができます。FURUKAWA S175では、トリガーオプションも用意されており、ユーザーはテスト手順を開始する条件を定義することができます。これにより、テストができるだけ効率的に実行されるように、ユーザーはテストプロセスを大幅に制御できます。S175は、エレクトロニクス業界の最も厳しい基準を満たすように設計されており、あらゆるタイプのテストに信頼できることを保証しています。この試験機は軽量で携帯性が高く、移動時の使用に最適です。全体的に、古河S175は、電子デバイス評価のための包括的なテストツールを必要とするエンジニアや技術者のための優れた選択肢です。
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