中古 FURUKAWA S175-V2000 #9106059 を販売中
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ID: 9106059
Splicer
Silica glass based optical SM / MM/ DSF fibers
Coating / Clad Dia: 0.25-0.9mm / 0.1-0.15mm
Cleave Length: standard 16mm optional 10mm
Average loss:SM: 0.02dB MM: 0.01dB DS: 0.04dB(with identical Furukawa fibers)
Reflection: -60dB or lower
Estimation accuracy: +/- 0.05dB (loss <0.4dB), +/- 15% (loss>0.4dB)
Operating time: Splice: 20s (typical),Heat: 90s (typical for S921)
Tension test: 200g (0.4lbs), option 440g (0.9lbs)
Attenuation splice: 0 to 10 db by 0.1 db
32 Splice Program with one Auto splice mode 4 pre-programmed. 28 customisable
Inspection: Cleave angle, Fibre end gap, core eccentricity, offset, tilt, micro bending, Bubble at spliced point
Display information: operating message, ARC counter, clock, heater status, estimation loss, finder image X Y view.
FURUKAWA S175-V2000は、高度な回路、信号処理、およびデジタル通信機能を備えた多機能デジタル電子試験装置です。これは、研究開発、生産、サービス、およびメンテナンスアプリケーションでの使用のために設計されています。それに複数の異なったタイプの実験室および試験装置を診断し、トラブルシューティングする機能があります。S175-V2000の中核には、複数の複雑な信号を一度に解析できる強力な周波数ベースの信号解析システムがあり、詳細な評価と比較のための強力な信号測定データを提供します。14ビットのアナログ/デジタルコンバータにより、高いサンプリングレートが得られ、高周波コンポーネントを含むあらゆる信号機能をキャプチャできます。この強力な信号解析コアには、DSPやFFTなどのソフトウェアアップグレード用の専用の処理スロットがいくつかあります。この機器には、大量のデータを格納するための8ビットのフラッシュメモリも内蔵されています。FURUKAWA S175-V2000は、試験、測定、制御の幅広いアプリケーションを持っています。さまざまな電子部品やデバイスの測定、保守、トラブルシューティングに使用できます。周波数や振幅などの信号特性、およびタイムドメイン性能を検出および分析できます。デジタル、アナログ、電力、RF、光学などの信号を分析できます。また、トランジスタ、ダイオード、リレーなどの部品試験や、デバイスや回路基板の検査・検証が可能です。S175-V2000には、カラーLCDやフルスクリーンタッチパネルなど、数種類のディスプレイが搭載されています。これにより、直感的な操作と測定、設定、操作パラメータの入力が容易になります。さらに、ストレージとデータ転送機能を備えています。機器からのデータは、USBフラッシュドライブ、PC、またはPDAに保存するか、直接印刷することができます。FURUKAWA S175-V2000は最高のビルド品質を備えており、あらゆる実験室や試験ステーションに最適です。それは頑丈な部品を使用して造られ、正確な、信頼できる結果を今日そして今後何年もの間提供します。それは厳密なテストを受けて、最も要求の厳しい要件を満たし、現場で使用する準備ができていることを確認します。この機器には、安心の追加のためのメーカーの保証が付属しています。
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