中古 FITEL S-174H #9180446 を販売中

FITEL S-174Hは光学損失、中心の直径、曲がる半径、力損失および多くのようなさまざまなタイプの測定のために、使用される電子試験装置です。使用する波長を選択するための汎用波長セレクタ（VWS）を使用した統合ソースを備えています。VWSはまた、連続波とパルス測定の選択肢を備えています。S-174Hには自動出力電力自動制御機能があり、測定範囲全体で最適な出力電力レベルを維持します。これは、dB、 dBm、で数値結果を提供する2つの内蔵デジタルディスプレイを持っています。さらに、付属のEvent Maker ［TM］を使用して、試験中のファイバーの特性に関するグラフィカルな情報を得ることもできます。FITEL S-174Hは、シングルモードおよびマルチモードファイバの光損失を測定するための理想的なツールです。波長範囲は650nm〜1700nmで、-70〜+10dBmのダイナミックレンジと一緒に切り替えることができます。この電子試験装置では、開口数、同心度、コア径などの様々な光学測定も行うことができます。また、S-174Hは完全に自動化されたプログレッシブ測定を備えており、異なるコネクタに接続された複数のファイバで一連の測定をすばやく実行します。さらに、FITEL S-174H用の全自動リペアソフトウェアパッケージは、スムーズな動作を保証します。測定データを転送し、包括的なレポートで結果を分析し、他の繊維と比較することができます。S-174Hは、高信頼性でユーザーフレンドリーな電子試験装置で、あらゆる光学損失測定や幅広い試験用途に適しています。PCインターフェイス、パッド入りキャリングケース、事前登録されたFC/SC/STターミネータなど、さまざまなユーザーフレンドリーで費用対効果の高いアクセサリーで利用できます。