中古 FITEL S-174H #9106043 を販売中

FITEL S-174Hは、様々な高精度ケーブルアセンブリ、光ファイバ、光学部品の挿入損失、反射率、リターンロス、電力を測定するために使用される電子試験装置です。波長範囲は850〜1625nmで、-35dB〜+60dBの範囲で測定できます。測定される繊維や部品の種類に応じて、30 μ sから0。5 μ sまでの高速測定機能を備えています。高度な測定機能は、通信、軍事および産業アプリケーションに最適なさまざまな分析および試験シナリオを提供します。S-174Hには、4つの光ファイバーポート、ソフトウェアランのレーザダイオードソース、パワーメーター、および可変光減衰器が装備されています。4つの光ファイバポートはA、 B、 C、 Dとラベル付けされているため、テスト中のファイバまたはコンポーネントの適切なポートを簡単に識別できます。レーザダイオードソースは、波長範囲850〜1625nmの0dBm〜+45dBmまで調整可能な光出力を備えています。このレーザーにより、幅広い光学部品や光ファイバにおいて、挿入損失、反射率、リターン損失を正確に測定することができます。パワーメーターには-65dBm〜+20dBmの範囲があり、比較的低消費電力で高精度な光学パワーの測定が可能です。可変光減衰器は正確な挿入損失およびリターンロスの測定のための光学力の微調整を可能にします。FITEL S-174Hはまた、洗練された機能とアプリケーションプログラムのためのハードウェアとソフトウェアを提供する2つの独立したマイクロプロセッサボードを備えています。最初のマイクロプロセッサボードには、カラーグラフィカルユーザーインターフェイスとアプリケーションプログラムの形での広範な測定機能が含まれています。2番目のボードには、テストパラメータ、データプロット、偏光解析、光リンク解析、光ファイバ回路などのフルレンジを提供するために必要なソフトウェアが含まれています。S-174Hは、耐久性があり、ロールアラウンドエンクロージャを簡単に輸送できます。これにより、異なる場所での測定が可能になり、機器とその統合コンポーネントの安全性が保証されます。また、パワーオーバーイーサネット機能、および誘導および低電圧の通信経路も提供します。FITEL S-174Hは、光ファイバの特性評価、測定、解析のための測定ソリューションを複数のアプリケーションで提供します。高精度で強力な機能を備えたS-174Hは、生産およびエンジニアリングの両方の設定における光学測定と特性評価に最適です。