中古 ENI 325LA #9104963 を販売中

ENI 325LAは、電子デバイスのベクトルパラメータを測定するために使用される電子試験装置です。このデバイスは、主にダイオードおよびトランジスタパラメータの測定および特性評価に使用されます。ナノボルトとナノメーターの測定範囲を持つAC/DC信号の精密測定を提供するように設計されています。325LAは多機能の機能の適用範囲が広い操作インターフェイスを提供します。より効率的なデータ取得を可能にするさまざまな機能が付属しています。その強力な10MHz帯域幅により、デバイスは最大1600 kHzの周波数を測定できます。10mVから50Vまでの測定範囲と0。05°の位相分解能を提供します。内蔵の波形ジェネレータは、振幅と周波数で最大1MHzの選択可能なスペクトルを提供します。この機器には、波形生成、トリガ制御、スイープモード、デュアルチャンネルサンプルレート、および2つの電源などのさまざまな機能が搭載されています。また、自動ゲイン制御を備え、調整可能なスルーレートを使用して精度を向上させます。ENI 325LAは、オフセットやスケーリング、スイープモード、ノイズ低減など、さまざまな制御機能を提供します。また、このデバイスは、USBポートを介してトライレンジ電圧設定、ピーク-トラフ測定、およびコンピュータ制御動作にも対応しています。325LAは堅牢で信頼性が高く、精密な機器です。それは信頼できる測定、優秀な正確さを提供し、低い自己騒音を備えています。汎用測定から精密高圧測定まで幅広い用途に対応します。その広い周波数応答範囲、低ノイズ性能、および調整可能なスルーレートにより、さまざまなアプリケーションに最適です。結論として、ENI 325LAは強力で信頼性が高く、効率的な試験装置です。AC/DC信号の両方に高い精度と精度を提供し、データ取得を簡素化する複数の機能を提供します。その多機能機能および低い自己騒音はそれを多数の適用のために適したようにします。325LAは信頼できる、正確な試験装置を捜している人々のための理想的な試験装置です。