中古 ENI 3100LA #9105393 を販売中

ENI 3100LA RF試験装置は、250kHz〜150GHzの広い周波数範囲で、高精度で信頼性の高いSパラメータおよびタイムドメイン測定を提供します。このシステムは、高感度および低ノイズ性能に最適化されたソリッドステートベクトルネットワークアナライザ（VNA）に基づいています。3100LAは、信号変調、散乱パラメータ、利得/損失測定のためのテストシステムに簡単に統合できるRFおよびマイクロ波測定のための包括的なデバイスであるように設計されています。このユニットには、高性能のデジタイザと受信機、およびデータ取得と分析のためのソフトウェアスイートが含まれています。ENI 3100LA VNAは非常に高い周波数分解能を提供し、非常に高い周波数でのパワーアンプなどの複雑なコンポーネントの特性評価に最適です。このマシンには、2ポートおよび4ポートの校正規格が豊富に用意されており、さまざまなコンポーネントを正確かつ正確に測定できます。3100LAは、広いダイナミックレンジ、低い挿入損失、および広い周波数範囲を備えているため、アンプ、フィルタ、アンテナ、およびその他のコンポーネントの特性評価に最適です。組み込みソフトウェアスイートには、メインフレーム制御および信号解析用の高度なグラフィカルユーザーインターフェイスであるVectorVuソフトウェアが含まれています。ユーザーは、ソフトウェアを使用してワイドバンドRF測定を簡単に構成および監視できます。ソフトウェアはまた、ユーザーが迅速に周波数または時間領域のコンポーネントを特性評価し、評価することができ、強力な分析ツールの選択を提供しています。ENI 3100LAは、研究、開発、生産、およびサービスのさまざまなアプリケーションに適しています。回転ヘッドや拡張周波数範囲など、幅広い選択肢を利用できるため、さまざまなテストに最適です。さらに、3100LAの強力なソフトウェアスイートにより、エンジニアは簡単にテストをセットアップおよび構成できます。その結果、このツールは既存のテストシステムに簡単に統合できます。