中古 ELDIM Mura #9206702 を販売中

ELDIM Muraは、回路カードアセンブリの評価を目的とした専用の電子試験装置です。集積回路、抵抗、コンデンサ、トランジスタなどの部品の試験に適しています。Muraは、回路基板、デジタルコンポーネント、電圧測定、連続テスト、デジタルおよびアナログ出力のテストを含む幅広い機能を備えています。このデバイスは、集積回路特性の変化を検出する機能も備えており、特定の閾値に達したときにイベントをトリガーするようにプログラムすることができます。その汎用性は、システムやサブアセンブリの精度をテストし、回路基板の完全性を決定するなど、さまざまなアプリケーションに適しています。このデバイスはポータブルで、2つの異なるサイズ構成が含まれています。ELDIM Muraを使用することで、さまざまな回路を迅速かつ正確にテストすることができます。このデバイスは、最大2ミクロン（400MHz）の解像度でDCから400メガヘルツ（2µ）までの周波数を測定できます。これは、2つのアナログ、2つのデジタル、2つのコンパレータ/電圧、および最大12のプログラム可能なデジタルおよびアナログ出力を含む16（16）チャネルに使用できます。Muraの主な機能は、さまざまな種類の部品の電気特性をテストして測定することです。これには、測定抵抗、容量、電圧降下、電流漏れ、消費電力、周波数応答、インダクタンス、および回路基板または集積回路のテストに関連する他のパラメータの監視が含まれます。コンパレータ/電圧テストとプログラム可能なデジタルおよびアナログ出力の2つの主な機能があります。コンパレータ/電圧テストは、テスト中の回路の特性の変化を識別するために使用され、ユーザーはオープンとクローズドループの両方の特性を測定することができます。プログラム可能なデジタルおよびアナログ出力機能により、ユーザーはデバイスを特定の入力と出力に応答するようにプログラムすることができます。これは、テストのプロセスを自動化するために使用されます。ユーザーは、電圧スレッショルドなどの特定のパラメータに到達したときにデバイスをプログラムしてイベントをアクティブ化できます。全体として、ELDIM Muraは、回路部品および基板の電気特性を試験および評価するための優れたデバイスです。非常に精密で汎用性が高く、エレクトロニクス製造プロセスのプロトタイピングと生産タスクの両方に役立つ正確な結果を提供します。その2つの主な機能は、複雑な電気部品の性能をテストおよび監視するために非常に有用であり、時間とリソースの両方を節約することができます。