中古 ATN MICROWAVE ATN 4112A #109309 を販売中

ATN MICROWAVE ATN 4112Aは、幅広いマイクロ波周波数域におけるアクティブコンポーネントおよびパッシブデバイスの特性評価および分析用に設計された先進的な電子試験装置です。電気インピーダンス、Sパラメータ、ノイズ、VSWR、電力など、さまざまな物理パラメータを高精度に測定できます。マイクロ波ATN 4112Aには、アナログおよびデジタル信号処理機能と幅広い試験測定機能が含まれています。このデバイスは、高分解能のダイレクトリードアウト技術を使用して、インピーダンスとSパラメータの測定値を正確に示します。ダイレクトリードアウト技術により、手作業による計算の必要性を低減し、デバイス特性評価のプロセスを大幅に合理化します。ノイズ指数、ゲイン、レシーバ感度などのノイズパラメータをノイズブリッジで測定することも可能です。パルスノイズ測定機能により、周期的/パルス動作でノイズパラメータを正確に測定できます。ATN マイクロウェーブATN 4112Aには、テスト周波数、パワーレベル、スキャン解像度、パルス幅などの調整可能なテストシステム条件も含まれています。また、フィルタや減衰器などの外部測定条件を指定して、システムの性能を調整したり、より小さな部品の測定精度を高めたりすることもできます。ATN 4112Aは、最も困難な動作条件に耐えるように構築されています。それは固体アルミニウムハウジングから成り、最高の耐久性のために設計されています。また、広い温度範囲で安定した測定が可能な、新しい熱管理技術を採用しています。このデバイスは、Sパラメータとノイズの三角形の両方を同時に表示できるグラフィカルディスプレイを備えたシンプルで直感的なユーザーインターフェイスを備えています。また、より自動化されたテストシステムに統合するためのさまざまなPC/ローカルインターフェイスも提供しています。総合的に見ると、ATN MICROWAVE ATN 4112Aは、マイクロ波領域におけるアクティブコンポーネントおよびパッシブデバイスの特性評価および分析用に設計された先進的な電子試験装置です。幅広い試験および測定機能を提供し、さまざまな物理パラメータの正確で信頼性の高い測定を可能にします。その直感的なユーザーインターフェイスは使いやすく、堅牢な構造は長年の信頼性の高い操作を保証します。