中古 ASYST SAM 4410 #9012555 を販売中

ASYST SAM 4410は、幅広い半導体デバイスのパラメータを測定するために設計された電子試験装置です。これは、開発および生産段階におけるデバイスの特性評価のための完全なソリューションを提供する高性能テスト機器です。このシステムは、フォワード電圧（Vf）、リバース電流（Irev）、ブレークダウン電圧（Vbr）、リーク抵抗（Rleak）、電流利得（hFE）、ターンオンタイム（Taf）、スイッチング速度（Taf）など、さまざまなデバイスパラメータの自動測定をサポートするように設計されています。SAM 4410は、DUT （devise under test）などの他のデバイスと接続するためのさまざまなインタフェースを備えた堅牢な設計です。ユニットのユーザーインターフェイスはグラフィカルで使いやすいため、ユーザーはテストを実行しながらマシンをすばやく正確にナビゲートできます。ASYST SAM 4410には、テストデータと結果を管理するためのさまざまなソフトウェア機能とツールが含まれています。このツールの統合データロガーは、分析と比較のために測定データをキャプチャして保存する機能をユーザーに提供します。その他の機能には、複数のユーザーのリモートサポートや、データやテスト結果に柔軟にアクセスできるデスクトップコンピューティングなどがあります。このアセットは、さまざまなデバイス特性をカバーする幅広いテスト構成で柔軟性を提供します。モジュール設計により、SAM 4410は1つのモデルで2つ以上のテスト構成をサポートするように設計することができます。また、電源制御用の内蔵チャネルも備えています。また、過電圧/過電流保護、DCバイアスサポート、自動テスト再試行など、堅牢な安全機能も備えています。内蔵の安全システムは、潜在的な問題をすばやく検出して特定することができ、テストが安全かつ効率的に実行されることをユーザーに保証します。ASYST SAM 4410の設計により、電子デバイス試験において信頼性が高く費用対効果の高いソリューションとなります。半導体デバイスの特性評価、高効率で正確かつ再現性の高い結果を提供するための理想的なツールです。