中古 ANRITSU MS710F #9100825 を販売中

ANRITSU MS710Fは、ローカルまたはグローバルレベルで高周波デバイスの性能を評価および監視するために使用される電子試験装置です。この装置は、効率的な信号解析と汎用性の高い操作を念頭に設計されています。デジタルとアナログの両方のRF信号を調べるための様々な便利な機能を提供しています。MS710Fは世界最高周波数範囲（125kHz〜40GHz）を備えており、様々な用途に適しています。高速測定ユニットは、4GHzまでの信号品質の誤差を推定することができます。ANRITSU MS710Fのデュアルビームトレースは、1つの測定で幅広いトレースを表示できる2つの同時ビームモニターを備えています。また、Small Pulse Generatorの信号解析機能は、半導体部品の性能測定やサブコンポーネント試験に適しています。MS710Fは、高調波および相互変調性能などの非線形特性を決定するための歪み測定を提供します。スペクトラルマスキングとACPR測定、マーカートラッキング、リミットテスト、ベクトルネットワークアナライザ、パワー測定、分散アンプ機能も備えています。ANRITSU MS710Fは、外部キャリブレーターユニットをベースとしたトレーサブルなキャリブレーションシステムを採用しています。このユニークな機能により、高精度で安定したリファレンスポートでMS710Fを校正できます。このインストゥルメントには、使いやすく直感的なメニューとコントロールを提供するGraphic User Interface （GUI）ベースのソフトウェアがあります。このインターフェースにより、データ収集プロセスが簡素化され、高速化されるため、デバイスは幅広いアプリケーションに適しています。ANRITSU MS710Fは、RF設計および生産試験における重要な測定タスク用に設計されています。高信頼性と広い周波数範囲が可能で、高周波アプリケーションに優れた性能と長期安定性を提供します。