中古 ANRITSU MP1777A #114822 を販売中

ANRITSU MP1777Aは、電子部品、システム、サブシステムの開発および製造における幅広いパラメータの試験および測定用に設計された多目的電子試験装置（ETE）です。MP1777Aは、LCR（インダクタンス、キャパシタンス、抵抗）測定、トランジスタテスト、高度なオシロスコープ機能、通信テストおよび分析、データロギングなどの機能を提供します。ANRITSU MP1777Aは、さまざまな測定機能を提供します。LCR測定には、インダクタンス、キャパシタンス、共振周波数、Q（品質係数）、減衰係数、ダイオードテストが含まれます。トランジスタ試験機能により、回路のHfeパラメータとVcbパラメータを測定できます。さらに、最大帯域幅200MHz、 500 μ s/div〜0。5 μ s/divスイープ時間、および5 mV/div〜10 V/div垂直範囲のオシロスコープ機能を備えています。また、Bluetooth、 ZigBee、 NFC、 Wi-Fi、 RFID、その他の通信プロトコルをサポートする通信テスト機能も提供しています。通信プロトコルをテストするためのさまざまな種類の信号を生成できます。また、応答を分析することができ、プロトコル全体を徹底的に検査することができます。この機能は、製品開発における通信プロトコルの検証に特に役立ちます。MP1777Aはまた、ユーザーが内部メモリまたはUSBドライブに結果データを保存できるようにするためのロギング機能も提供します。これにより、停電または機器のスイッチがオフになった場合のデータ損失を防止します。これにより、データの傾向を特定し、テストの失敗または問題の根本原因を特定することが容易になります。ANRITSU MP1777Aは、グループスキャン、最大500MS/sの信号の処理速度、デバイス検証のためのインテリジェントスキャン機能、2つのソースからパラメータを測定するためのデュアルチャネル機能など、さまざまな機能も備えています。これらのすべての機能は、MP1777Aを電子部品の開発と生産のための理想的な機器にします。