中古 ANRITSU MP1763C #9009622 を販売中

ANRITSU MP1763Cは、高速デジタルコンポーネントの生産試験および特性評価のための高度な電子試験装置です。この費用対効果の高い使いやすい機器は、半導体、IC、光ファイバ、コネクタ、およびその他の高速デジタル部品の生産試験および特性評価に必要な性能と精度の組み合わせを提供します。MP1763Cにより、高速タイミング、デューティサイクル、周波数、パルス幅、上昇時間、落下時間、dV/dt、歪み、信号品質、アイパターン、ジッタなど、幅広い測定が可能です。ANRITSU MP1763Cは波形（時間、頻度、デューティサイクル、上昇時間、落下時間、パルス幅、dV/dtおよびゆがみ）を含む複数の測定モードを提供します)、グループ遅延（自動周波数スイープによるフェーズおよびグループ遅延）、アイパターン（アイダイアグラム、上昇/落下時間、オーバーシュート/アンダーシュートおよびジッタ）、ニューラルネットワーク （人工ニューラルネットワーク学習による波形のスマート分類）とParametric （Random Volt/Time、 Critical Path、 Timing Model、 RCLK）。さまざまな試験および測定機能に加えて、MP1763Cは12ビット分解能の高感度で高解像度のA/Dコンバータを備え、200 MS/sまでのサンプリングレートを備えており、高速信号を正確に測定できます。ANRITSU MP1763Cには高速なデュアルチャネル波形検索機能が搭載されており、最大1マイクロ秒の速度でキャプチャされた波形から指定された波形パターンを検出して特定できます。MP1763Cは、自動トリガー、自動しきい値、自動検出、自動校正機能も提供し、テストの精度と再現性を保証します。さらに、プログラム可能な並列GPIB/シリアル （USB/イーサネット）インターフェース、ソフトウェア/ハードウェアトリガ、同期機能、電力測定、データストレージ、プログラミングおよび分析用の内部メモリなどの高度な電子テスト機能を備えています。さらに、ANRITSU MP1763Cのモジュール設計により、さまざまな機器との統合が可能になり、接続、並列ルート、マルチチャンネル同期を直列化することが可能になります。組み込みプログラミング言語は、自動化のための簡単な計器制御をサポートし、また、測定方法のカスタマイズ開発を可能にします。MP1763Cは、デジタルコンポーネントの生産試験および特性評価に適した汎用性の高い正確な試験装置です。半導体、IC、光ファイバ、コネクタ、高速デジタル部品など、高速で正確な測定が必要な用途に最適です。