中古 ANRITSU ME448A #9111274 を販売中
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ID: 9111274
Bit Error Rate Test Set
CCITT compatible
Operating range: 1 kbit/s to 50Mbit/s
Loop-back and end-to-end measurements
Sending unit, internal clock crystal oscillator: maximum four frequencies installed
Receiving unit, bipolar clock recovery: maximum three frequencies installed
Bipolar and unipolar system measurements
Bi polar - maximum four outputs (two outputs standards) Unipolar - pattern: four outputs clock: two outputs
Measuring pattern: Psuedo-random pattern maximum length 215 - 1or 223 - 1bits
Measuring codes: AMI, HDB3
Error rate measurement and error pulse counting by detecting binary bit errors or code violation errors (option)
Recorder output/Printer output.
ANRITSU ME448Aは電子部品および回路の開発そしてテストのために設計されている高精度の電子試験装置です。この汎用性の高いデバイスは、時間領域反射測定(TDR)、インピーダンス測定、利得測定、インピーダンススイッチングなど、幅広いテスト機能を提供します。1kHz〜1GHzの広い周波数範囲を備え、測定精度は最大0。002%です。装置は容易な操作のためのタッチ画面LCDの表示を含んでいます。GPIB、 RS-232、 パラレルI/Oプリンタポートなどの外部接続用ポートを備えています。また、PCに接続するためのUSBポートも備えています。このデバイスには、周波数およびレベル調整用の信号ジェネレータ出力が内蔵されています。時間領域反射測定(TDR)に関しては、ME448Aは異なるシナリオに対して3つの測定モードを提供します。最初のモードである基本的なTDRは、伝送ラインを通過する信号の全体像を提供します。2番目のモードであるインピーダンスグラフは、ラインの端子インピーダンスの高周波応答の詳細なグラフを提供します。3番目の偏光モードでは、ユーザーは偏光部品の特性を測定することができます。ANRITSU ME448Aは、広い周波数範囲にわたってデバイスの正確なゲイン推定を提供する利得測定機能も備えています。これらの機能は、電子部品や回路の損失や歪みを識別するのに役立ちます。また、インピーダンススイッチング機能も備えており、異なるテストポイントを切り替えることができます。さらに、このデバイスは、ネットワーク経由での遠隔操作、外部機器の自動保存および制御などの高度な機能を備えています。その移植性と堅牢な設計により、実験室とフィールドの両方のアプリケーションに適しています。同軸および導波管の両方の部品との使用のために適しています。全体として、電子部品や回路ME448A正確な測定を必要とする人にとって、強力で汎用性の高い試験装置です。信頼できる時間領域測定、利得測定、インピーダンス測定、インピーダンススイッチングを提供します。その機能とユーザーフレンドリーなタッチスクリーンの範囲は、エレクトロニクス業界の人々にとって理想的な選択肢です。
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