中古 ANRITSU 37397C #9084236 を販売中

ANRITSU 37397Cは、アナログおよびデジタル回路の高周波特性を測定するために設計された電子試験装置です。この試験装置は、高周波測定を扱う半導体、コンピュータ、通信業界のエンジニアや技術者に最適です。電気ネットワークの微細な変化を正確に検出および分析し、幅広いテストパラメータを提供します。37397Cには、Time Domain Reflectometry （TDR）、 Differential Phase Measurement （DPM）、 VNA（ベクトルネットワーク測定）、Time Domain Phase Measurement （TDPM M）などの測定機能が組み込まれています。TDRは、波形反射を用いて高周波回路の電気特性を測定する装置です。DPMは、各信号の電気位相を測定することにより、伝送線や回路の歪み特性を測定します。VNAは、伝送線やネットワークの特性を極めて正確に測定します。TDPMは、動作周波数範囲における信号の到着時間と遅延を測定し、回路のおおよその損失特性に関する情報を提供します。これらの測定に加えて、高解像度波形ディスプレイ、測定結果を記録・保存するための不揮発性メモリ、比較操作などの機能が組み込まれているANRITSU 37397C。この試験装置はWindowsとも互換性があり、USBポートを介して外部デバイスへのデータ転送が可能で、簡単な操作と制御が可能です。37397Cは広い測定周波数範囲を備えており、周波数は5kHzから30GHzまで拡張されています。高振幅ダイナミックレンジの信号を-90dBm以下まで測定することができます。また、試験装置は高度な1µV分解能を備えており、正確な振幅測定が可能です。ANRITSU 37397Cは非常に信頼性が高く信頼性の高い試験装置と考えられており、高度な仕様は非常に繊細な測定と分析に適しています。幅広い機能により、高周波アナログ回路やデジタル回路の特性評価に最適です。さらに、この試験装置にはリーズナブルな価格のタグがあり、測定要件のための魅力的なソリューションです。