中古 ANDO AQ2140 #9352441 を販売中

ANDO AQ2140は、光学部品の単素子と多素子の両方の測定用に設計された最先端の電子試験装置です。ミケルソン干渉計は、広帯域光源、大容量のサンプルサイズ、および広範囲の測定速度と組み合わせた偏光依存スキャンを使用して、真の光学性能を提供します。本製品は、レンズ、ミラー、大型光学系などの単一素子と多素子の両方の光学部品を高精度に測定することができます。このデバイスは、ベンチトップと完全に自動化されたユニットであり、複数の要素を同時に測定することができます。コンパクトなサイズと包括的な機能により、ラボだけでなく生産ラインにも効率的に展開できます。AQ2140の中心は、最高品質の偏光光学を搭載したスキャンミケルソン干渉計です。高精度で、最大0。2ナノメートルの分解能で、広範囲の波長で単一素子の光学部品を測定することができます。このデバイスはまた、製造プロセス中に非常に有利である送信および反射を含むさまざまな種類の波面測定を可能にします。さらに、ミケルソン干渉計の偏光依存スキャンは、ビームサイズ、波面歪み、表面粗さなどの複数の測定を単一の測定で効果的に実行できます。ANDO AQ2140はまた、生産環境でも光学部品の正確な評価を確実にするために、多くの革新的な技術を備えています。測定対象となる光学部品の滑りを防ぐ専用のサンプル実装システムや、サイズや厚さに関係なく各サンプルに最適なフォーカスを提供する高精度オートフォーカス機能などがあります。このデバイスは、単一のインターフェログラム測定で多くの要素をサンプリングすることもできます。この技術は、同時追跡アルゴリズムを使用して、単一のスキャンで長さ全体にわたって1ミクロンの要素を測定します。また、超高速画像により、ナノ秒の速度でも素子を効果的に測定することができます。結論として、AQ2140は、高精度と高速で様々な単元および多元素光学部品を測定することができる堅牢で正確な電子試験装置です。革新的な機能と直感的なユーザーインターフェイスにより、あらゆるタイプの光学テストに最適です。