中古 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT E5515C #9042484 を販売中

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT E5515C電子試験装置は、半導体デバイスおよび関連製品の信号整合性試験および設計検証用に設計されています。この試験装置は、試験中の装置の電気応答を測定し、その性能を評価します。HP E5515Cは、インパルス信号またはスクランブル信号を作成し、テスト中のデバイスの入力で応答を測定します。このデバイスはまた、周波数ドメイン解析とパルス幅の測定を実行します。AGILENT E5515Cにはメインフレームとテストヘッドが装備されています。メインフレームは最大2つのModAcモジュールをサポートし、制御と測定のための複数の機能を提供します。テストヘッドは、入力チャネルと出力チャネルの統合された50オーム終端を含む、DUTの絶縁環境を提供します。E5515Cは、小さな信号オーバードライブによる立ち上がり時間や落下時間などの時間領域測定から、周波数ステップ応答などの周波数ドメイン測定まで、幅広い電気測定を提供しています。サブナノ秒から数マイクロ秒までの測定が可能です。この装置はまた、狭いパルス性能と高速エッジ測定の分析を提供します。さらに、KEYSIGHT E5515Cは包括的なマスクテストと統計分析機能を提供します。この電子試験装置には、高度な制御とデータ収集システムが搭載されており、複数の試験を迅速にセットアップ、制御、運用できます。幅広いテスト条件をサポートする多目的測定コマンドと、テスト設定を簡素化するグラフィカルインターフェイスを備えています。HEWLETT-PACKARD E5515Cは、信頼性の高い結果を可能にする高精度と再現性を提供します。トリガーシステムは、外部トリガーやSMUとの統合など、正確な測定を確実にするための幅広いトリガーおよび同期機能を提供します。また、パフォーマンスを最適化するための選択可能な帯域幅も提供します。AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT E5515Cには、Electronic Design Automation互換のアナライザソフトウェアも含まれています。このソフトウェアは、データ分析、レポート、グラフ作成のための洗練されたツールと機能の包括的なスイートを提供します。これは、一般的なテストのセットアップと条件のための既製のテストとコントロールのライブラリを持っています。全体として、HP E5515Cは高速特性評価、パルス解析、マスク試験用に設計された堅牢な電子試験装置です。半導体の性能を調べるための正確な測定、高度な解析、信頼性の高い結果を提供します。