中古 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT E3771A #144848 を販売中

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT E3771Aは、半導体デバイス（デバイスおよびダイオード）の試験および分析用に特別に設計された電子試験装置です。マイクロウェーブネットワークアナライザで、エンジニアと技術者がシミュレーションされたデバイスの性能と比較して実際の性能をすばやく比較することができます。HP E3771Aは、高周波測定レシーバ（HFRM）とマイクロ波固定ネットワークアナライザ（MFNA）の2つの主要コンポーネントで構成されています。HFRMは、10 GHz〜40 GHzの半導体デバイスとダイオードの性能を測定するように設計されています。小信号ゲイン、大信号出力電力、広帯域ノイズ指数などのデバイスパラメータ3-dBテストするために使用されます。このコンポーネントはフルデジタルインターフェイスで動作するため、コンピュータで記録および分析用に使用できます。MFNAは、試験治具に取り付けられた装置を1〜19 GHzで測定するように設計されています。このコンポーネントは、オフステート絶縁、Sパラメータ、ノイズフィギュアなどのテストセットデバイスパラメータを測定するように設計されています。さらに、負荷引力測定、周波数スイープ測定などのin-situ解析を行うように設計されています。AGILENT E3771Aは、幅広い測定精度とソフトウェア機能を提供します。周波数スイープ測定用に10MHz〜50MHzの周波数ステップサイズのオートチューナーを備えています。また、不連続を捕捉するための非均一な周波数ステップもあります。高度な温度制御とセルフキャリブレーションにより、高い測定精度を保証します。ソフトウェアで制御された測定は、安定性解析や高調波バランスなどのアルゴリズムを含むさまざまなアルゴリズムで利用できます。KEYSIGHT E3771Aには2つの入力コネクタと2つの出力コネクタが装備されています。出力は、電力、インピーダンス、位相のプロットを提供する周波数ドメイン解析を可能にします。入出力コネクタは外部ラボ機器とも互換性があり、完全なカスタマイズが可能です。E3771Aは、半導体デバイスのテストと分析に信頼性の高いユーザーフレンドリーなソリューションです。最小限のベンチ空間を使用したコンパクトな設計で、将来の半導体デバイスとの互換性を向上させるための将来的な設計を提供します。インターフェイスは簡単で、柔軟なソフトウェア機能により、この電子試験装置は信頼性が高く効率的な試験ソリューションを探しているエンジニアや技術者に最適です。