中古 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 85032F #156347 を販売中

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 85032Fは、漏れとインダクタンスを測定するための信頼性の高い高精度デバイス特性評価を提供する統合コンポーネントのデディスタ試験治具です。このデバイスは、さまざまなアプリケーションでコンポーネントの迅速かつ正確な特性評価を可能にします。幅広い用途に適した汎用性の高いデザインを特徴としています。据え付け品は異なった必要性に適する3つの広いモデルで来ます。基本的なモデルは、完全な180度の回転のための5度の傾斜角度と25mm x 25mmの長方形の窓が装備されています。これにより、コンポーネントパラメータの迅速かつ簡単で正確な決定が可能になります。調整可能な高さモデルは、より正確な特性評価を必要とするアプリケーションに最適で、追加の高さ制御、角度傾斜制御、および最大40の異なる位置を提供します。半導体の漏れやインダクタンスを直接測定できる特殊な機能を備えた先進モデルです。フィクスチャには、サンプルポート、テストコンタクト、読み出しモジュール、サンプルホルダーの4つの主要コンポーネントがあります。4つの入力ポートは、サンプルサイズが最大21 x 17mmのほぼすべてのコンポーネントに対応できます。試験接点には、最大導電性のための金メッキ表面があり、接触圧力を提供し、最適な性能をもたらす2段階のスプリングおよびレバーシステムを備えています。読み出しモジュールは、0。1％の解像度を持つ高精度の測定用に設計されています。それはまた読書を速く、容易にするために4ラインLCDスクリーンが装備されています。サンプルホルダーは、テスト中にサンプルを所定の位置にロックすることを可能にする設計で、部品のための安全で安定したプラットフォームを提供します。HP 85032Fは電気デバイスの特性評価に最適で、電圧レギュレーション、パッケージング評価、半導体デバイスの特性評価などのアプリケーションに信頼性の高い結果を提供します。それは速く、信頼できる据え付け品を必要とするテストエンジニアのための適用範囲が広く、正確な解決です。高精度、機能、人間工学に基づいた設計により、このデバイスは初心者と経験豊富なユーザーの両方に最適です。