中古 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 778D #9161563 を販売中

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 778Dは、半導体デバイスの性能を測定および分析するために設計された電子試験装置です。この試験装置は、独自のクロストーク測定法を使用して、試験中のデバイスの隣接するピン間の電気干渉レベルを測定します。この測定回路は、高精度タイミング、周波数、信号源の生成とアンプの組み合わせを利用して、デバイスのデジタル波形とアナログ波形を正確に測定します。HP 778D試験装置は、デジタル信号とアナログ信号の両方に多種多様な試験機能を提供します。また、メニューとグラフィックスを備えた正確で使いやすいユーザーインターフェイスを提供しており、ユーザーが目的のテスト結果を得るのを手助けします。AGILENT 778Dは、静的および動的評価、周波数応答テスト、ダイオード漏れ測定など、半導体デバイスのさまざまな機能テストをサポートしています。この試験装置は、DCからGHzまでの幅広い周波数で動作することができます。また、複数のテストピンから選択し、複数のピンで同時にテストを実行できるスイッチングシステムを内蔵しています。HEWLETT-PACKARD 778D試験装置は、精密試験機能に加えて、パルス波形、任意の信号発振器、内蔵パターンメモリ、Fast Fourier Transform （FFT）プロセッサなどの高度な機能を提供します。これらの機能により、ユーザーは外部機器を必要とせずに複雑な波形を生成および分析することができます。さらに、778Dは電源と接地オプションを備えており、電源と基準測定を提供します。また、外部コンピュータと通信するための内蔵の外部UARTシリアルポートも備えています。KEYSIGHT 778D試験装置は過酷な環境条件に耐えるように設計されており、幅広い半導体テスト用途に最適です。また、頑丈で耐久性があり、振動、衝撃、極端な温度に耐えることができます。このように、AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 778D試験装置は、さまざまな産業および実験室の設定での使用に適しています。全体として、HP 778Dは高度でありながらユーザーフレンドリーな半導体テストおよび分析システムです。精密な試験機能、高度な機能、信頼性の高い性能を幅広く提供し、あらゆる半導体テスターに最適です。