中古 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4156C #9084499 を販売中

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4156Cは、ダイオード、トランジスタ、サイリスタ、FETなどのシリコンおよび化合物半導体コンポーネントの両方に強力な多目的自動測定を提供するベンチトップ半導体コンポーネント分析器です。この汎用性の高い試験装置は、正確で正確な回路部品評価用に設計されており、費用対効果の高い部品測定ソリューションを提供します。HP 4156Cベンチトップ半導体コンポーネントアナライザは、汎用性を高めるためのオプションのアクセサリの範囲を持つ頑丈な試験装置です。これは、簡単なデータ収集のために設計された4レベル、2レベル、2レベルの逆測定など、多くの自動テスト機能を提供しています。このテスターを使用すると、デバイスの特性評価を実行し、デバイスの性能パラメータを検証することもできます。AGILENTの4156Cベンチの上の半導体の部品の検光子の主な特徴は3。5ディジタル高圧電圧計を含んでいます、 250Vまでの高圧DCの流れの源、50Vまでの低電圧DCの流れの源、 高圧バイアス源の範囲、高圧DCおよびAC測定モードの広範囲の選択、 高周波AC電流プローブ、TICLOCKパルス発生器、デジタル温度計、および電圧および電流ディスプレイ。KEYSIGHT 4156Cベンチトップ半導体コンポーネントアナライザは、幅広い半導体測定をサポートし、シンプルな回路設計と複雑な回路設計の両方に幅広い試験結果を提供します。さらに、そのグラフィカルディスプレイは、トラブルシューティングのためのテスト結果を明確に表示します。ベンチトップ半導体コンポーネントアナライザ4156C、ユーザーに多くの機能と利点を提供し、半導体コンポーネントの性能をテスト、検証、評価するための理想的なソリューションです。この試験装置は信頼性が高く正確であり、良好な分解能と再現性で測定を提供し、比較的使いやすく維持されています。また、さまざまな測定パラメータを備えているため、さまざまな試験アプリケーションに適しています。結論として、HEWLETT-PACKARD 4156Cベンチトップ半導体部品分析装置は、半導体部品の性能を評価するための汎用性と信頼性の高い試験装置です。このシステムは、精度と再現性のために構築され、内蔵の診断機能を介してその寿命が延長されます。テスターは良好な解像度で測定を提供し、ユーザーインターフェイスは使いやすいように設計されています。