中古 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4156C #293814060 を販売中

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4156Cは、半導体デバイスの特性評価およびパラメトリック試験に使用される多機能テストシステムです。メインフレームユニットと4つのパラメータモジュールをメインフレームインターフェイスカードとパワーターミナルブロックで接続して構成されています。HP 4156Cは、3端子プローブ（V、 I、 R）、 4電極プローブ、および2つのケルビン接続プローブアセンブリを備えています。汎用性の高いコンピュータ制御機能を備え、幅広いバイアス条件にわたる半導体デバイス性能の高精度パラメトリック試験に使用できます。AGILENT 4156Cは低ノイズ出力段を備えており、広い周波数範囲での電圧や電流などのデバイス特性を高分解能で測定できます。4つのパラメータモジュールは、バイアス電圧と電流の高レベル制御と、さまざまなパルス波形、離散ロジックレベル、および論理信号の組み合わせの適用を可能にする柔軟性を提供します。さらに、電流検出統合、最大および最小バイアス電流レベルメモリ、アラーム制限設定、計器校正などの最新のデジタル機能を備えています。4156Cには、パラメータモジュールから利用可能な電圧、電流、パルスタイミングなどのさまざまな測定パラメータがあります。半導体デバイスの特性評価には、DCとACの両方のパラメータ測定が可能です。また、入力静電容量測定、出力静電容量測定、逆漏れ電流測定、前方電流漏れ測定、スイッチング時間測定、ノイズ測定などのパラメトリックテストも実行できます。絶縁体と酸化物の層のパラメトリック試験を絶対精度で行うことができ、波形測定において非常に微細な分解能を発揮します。また、HEWLETT-PACKARD 4156Cは、半導体デバイスからの電流検出電圧を直接測定する機能を備えています。KEYSIGHT 4156Cは、さまざまなインターフェイスと接続構成オプションを提供します。GPIBまたはRS-232シリアルプロトコルを使用してリモートコンピュータに接続できます。これは、任意のコンピュータ端末から測定結果を取得するための利用可能なリモートモニターインターフェイスを持っています、ローカルコントロールは、そのオンボードキーボードを利用しても利用可能です。また、さまざまなデータ収集システムとも互換性があります。全体として、AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4156Cは、半導体デバイスの特性評価とパラメトリックテストに最適な先進の多機能テストシステムです。高精度・高解像度、多彩な構成と接続オプション、使いやすさを備えています。これにより、最新の半導体デバイス特性評価およびパラメトリックテストのニーズに最適です。