中古 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4155C #9000408 を販売中
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ID: 9000408
Semiconductor parameter analyzer
General Features:
Cost-effective, accurate laboratory bench top parameter analyzer
4x Medium-power SMU, 2xVSU and 2xVMU
Fill-in-the blanks front panel operation
Includes Desktop EasyEXPERT software for PC-based GUI instrument control
Measurement Capabilities:
10 femtoamp and 0.2 microvolt measurement resolution
QSCV, Stress Mode, Knob-sweep, and Stand-by functions
+/- 200 Volts and +/- 1 Amp High-Power SMU, Pulse Generator capabilities available by optional 41501B
SMU Measurement Resolution:
Voltage: 2 V
Current: 1 fA
SMU Measurement Accuracy:
Voltage: 200 V
Current: 20 fA
SMU pulse width: 500 s/100 ms
VMU:
Resolution: 2 V
Accuracy: 200 V
VMU (differential):
Resolution: 0.2 V
Accuracy: 10 V
Dual High Voltage Plus Generator:
Voltage range: +/- 40V
Output current: +/- 200 mA
Minimum pulse width: 1 s
Minimum pulse period: 2 s.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4155Cは、汎用性と強力な半導体デバイス試験装置です。DC〜30MHzの周波数範囲を持ち、研究開発ラボや生産ラインで使用できるように設計されています。HP 4155Cはユーザーに幅広い機能と機能を提供し、半導体デバイスの品質と性能をテストするのに最適です。4つの入力チャネルを備えており、複数のデバイスを同時に測定することができます。また、ダイオード静電容量電圧（C-V）、ブレークダウン電圧、ドレイン-ソース抵抗（RDS）、モビリティ、電流利得帯域幅、しきい値電圧、電荷中立性など、さまざまなデバイス特性と測定機能を備えた高分解能、安定した低ノイズ測定を提供します。さらに、グラフィカルユーザーインターフェイスを備えているため、結果を簡単に表示および分析でき、データ処理を高速化できます。AGILENT 4155Cは、静電気放電（ESD）やその他の環境上の危険からシステムを保護する保護ハウジングなど、多くの安全機能を備えて設計されています。また、継続的な精度と信頼性を確保するために、内蔵の診断機能とバッテリバックアップメモリを備えています。より高度なユーザーのために、4155Cは高度なプログラマビリティを提供し、ユーザーはテスト手順をカスタマイズして自動化することができます。ソフトウェアベースのプログラミングにより、テストパラメータの制御と保存、テスト条件の最適化、カスタムプログラムの構築が容易になります。また、高度なトリガーユニットを備えており、複雑なイベントをより高い精度で検出および測定し、さらに複雑な測定を行うことができます。全体として、HEWLETT-PACKARD 4155Cは堅牢で信頼性の高い半導体デバイス試験機で、信頼性と正確な結果、高度なカスタマイズ、および強化された安全機能を提供します。デバイス品質の測定、デバイス特性の最適化、試験手順の自動化に最適で、研究開発、生産などに最適です。
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