中古 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4145 #102469 を販売中

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4145は、高精度、高性能、汎用性の高いデジタル半導体試験装置です。従来のパラメータベース半導体デバイステスターの精度と、高度に自動化されたパラメーター制御テスト環境の効率と柔軟性を戦略的に組み合わせています。このシステムにより、トランジスタ、ダイオード、LED、オプトエレクトロニクス、その他のデバイスを含む半導体コンポーネントの全範囲を迅速かつ正確にテストできます。このユニットは、デバイスの特性評価、大容量テスト、ダイ/パッケージテスト、モジュールのソートをサポートする幅広いテスト機能を提供します。自動化されたパラメトリックテスト機能により、HP 4145は、フォワードバイアス接合抵抗、故障電圧、最大電流、リバースバイアス接合抵抗、動的消費電力、デューティサイクル、電圧ゲイン、および外部センサのモニタ機能など、さまざまなパラメータを迅速に校正およびテストできます。このマシンはまた、自動テストパラメータ最適化機能を備えており、ユーザーはターゲットパラメータのプリセット値を設定することができます。AGILENT 4145の高性能ツールアーキテクチャは、最大64のテストチャネルをサポートし、並列テストでは最大1024の合計パラメータの組み合わせをサポートします。また、熱応力試験、過電圧保護、動的DC試験などの高度なテストも提供しています。さらに、このアセットには、24ビットの高速アナログ/デジタルコンバータ、16ビットの高分解能アンプ、およびテスト中の各デバイスの完全なテストサイクルを監視する32ビットの正確なタイマーが含まれています。KEYSIGHT 4145は、外部システム間のテストデータ転送を可能にする包括的な通信インタフェースを提供します。Webインターフェース、ソフトウェア、ハードウェアシステムなどの他のツールとのインターフェースが可能で、ユーザーは複雑なプロジェクトを社内で開発および維持することができます。このモデルには、デバイス性能ベンチマークツールを含む包括的なソフトウェアツールが含まれており、低性能デバイスの識別、デバイス設計の最適化、および他の商用部品との性能パラメータの比較を支援します。さらに、この機器は、自動化と業界標準のデバイスモデルとの統合のためのカスタムアプリケーションの範囲をサポートしています。HEWLETT-PACKARD 4145は、生産性を向上させ、正確な結果を生み出し、コストを削減するように設計されています。強力な機能と堅牢な性能を備えた4145は、さまざまな電子部品の信頼性の高いテストに最適です。