中古 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 11713C #200107 を販売中

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 11713Cは、高速集積回路（IC）システムの作成と解析に使用される高度な電子試験装置です。それは診断することは困難である場合もあるとらえどころのない、一時的なでき事のテストのために設計されています。HP 11713Cは、時間領域反射測定（TDR）解析を使用した吸収性背面反射測定システムです。これにより、テスト中のデバイスのインピーダンス特性を分析したり、信号品質を測定したり、トラブルシューティングを支援したりすることができます。このシステムは、設定可能なスイープレートで25GHzする1GHzの周波数範囲をスイープすることもできます。LXI対応AGILENT 11713Cには、調整可能な差動電圧プローブ、ディスプレイモジュール、ADC/DACコンバータ、および信号反射を補正するキャリブレーションプレートが装備されています。また、2つの時間領域反射計チャネルを備えており、範囲時間領域反射計（RTDR）および双方向TDR （BTDR）機能を備えています。RTDRチャネルはシングルエンド測定を可能にし、BTDRチャネルはシステムのリターンロスと位相マージンに関する詳細情報を提供します。さらに、HEWLETT-PACKARD 11713Cは、最大8つのトリガチャンネルまでの多重リターンロスを測定できます。KEYSIGHT 11713Cのメインユニットには、電源、電源スイッチング用マルチプレクサ、Sパラメータ受信機、ダイレクトアクセスレジスタ（DAR）、ボードサービサモジュールも含まれています。DARレジスタを使用して、ボードの機能を制御できます。ボードサービスモジュールは、各ボードの電源供給、リセット、再キャリブレーション、および優先順位付けに便利な方法を提供します。さらに、11713Cにはプロセッサコントロールカードも含まれており、PCからAGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 11713Cの操作を制御するためのオプションのシリアルプログラミングインターフェイスを提供します。測定機能に加えて、HP 11713Cには複数の分析および表示ツールもあります。信号測定ツール、X-Yプロット、リアルタイム波形トレース、FFT解析、オシロスコープトリガーなどがあります。これらのすべての機能により、AGILENT 11713Cは高速統合ワードデザイン、障害、挿入損失、イベント&パルス伝搬解析、電磁パルス試験、モデル検証に適しています。