中古 ADVANTEST R3767CH #9003150 を販売中

ADVANTEST R3767CH電子試験装置は、次世代家電向けの完全なテストソリューションです。これは、オーディオビジュアルシステム、通信製品、モバイルおよびその他のデジタルデバイス、およびその関連コンポーネントの包括的なテストを提供するように設計されています。高精度な測定が可能な各種機能を搭載し、幅広い試験に対応しています。R3767CHは、高解像度を特徴とするDSP（デジタル信号プロセッサ）や高速処理などの高度なデジタル技術を活用しています。追加されたリアルタイムサンプリング時間間隔測定（ASTiM）記録システムにより、アナログ信号とデジタル信号の両方の精密時間間隔測定が可能になります。ADVANTEST R3767CHは高速スキャンおよび表示操作も可能で、最大増幅は100万回、最大スキャン速度は40 Hzです。これにより、試験条件への迅速な対応に最適です。このユニットには、フレームユニット、メインフレーム、入出力（I/O）ユニットの4つの基本コンポーネントが含まれています。信号源、発電機、価値検出器、および測定の単位モジュールのような他の部品はあなたの特定の必要性に従って機械に、付けることができます。メインフレームユニットには、CPU、フラッシュメモリ、デュアルモニターディスプレイユニット、キーボード、およびデジタル-アナログコンバータが含まれています。ユーザーフレンドリーなGUI（グラフィカルユーザーインターフェイス）を使用してツールを操作します。R3767CHは、周波数、位相角、パルス幅変調などのパラメータに対して、デジタル信号処理操作を使用して正確な測定を提供します。このアセットは、アナログ信号とデジタル信号の複数チャネル間のタイミング精度を測定することができます。各信号の同期を検証し、複数の波形を比較し、歪み係数を測定することができます。このモデルには、ノイズを低減し、より高い信号対ノイズ比を提供するビデオプリアンプなどの機能も含まれています。これにより、正確なビデオ信号処理操作が可能になります。その他の特徴としては、多周波信号解析のための特別な測定モード、長期信号解析、長期測定のためのメモリ条件などがあります。自動テスト機能が利用可能で、ユーザー定義の測定条件とテストシーケンスを可能にします。全体として、ADVANTEST R3767CH電子試験装置は、次世代家電の要件を満たすように設計された高度な機器です。これは、幅広いパラメータのための正確な測定とテストを提供します。ユーザーフレンドリーな操作、高速スキャン、多種多様な測定機能により、さまざまなタイプのデバイスをテストするのに理想的なソリューションです。