中古 ADVANTEST R3271 #143041 を販売中

ADVANTEST R3271は、電子デバイスの電気特性を効率的かつ正確に測定するために設計された電子試験装置です。この装置は、ジャンクション容量、漏れ、トランジスタパラメータなどのデバイス特性を測定することができます。これは、高度なデバイスパラメトリックアナライザであり、優れた精度、安定性、および試験結果の速度を提供します。R3271は、高周波測定回路と低周波測定回路の両方を備えています。この高周波回路は、10〜2600MHzの広い周波数範囲で静電容量と相互変調歪みを測定することができます。この低周波回路は2つの高精度アナログチャンネルを備えており、最大3MHzの直流および低周波AC信号を測定できます。この装置には、卓越した解像度と精度を提供するデジタルセンサー（DS）回路が装備されています。これは、デバイスのパラメータを正確に測定するために、電流の小さな変化を検出することができます。ADVANTEST R3271には温度センサと補償回路も装備されており、デバイスの温度変化の可能性があるにもかかわらず正確な測定を保証します。この試験装置には、グラフィカルユーザーインターフェイスを使用してテストパラメータを制御する内蔵のデジタルコントローラも含まれています。コントローラは、結果の分析と比較、テストパラメータの保存とリコール、さらにはユーザー表示のための詳細な履歴グラフを生成することができます。これらの機能により、ユーザーはデバイスを品質管理し、テスト中のデバイスに関する洞察を得ることができます。R3271はマルチウィンドウディスプレイも備えており、複数のテストの結果と設定を同時に表示できます。この機器には柔軟なソフトウェアアーキテクチャとモジュール構成も含まれており、ユーザーの要件に応じてカスタマイズすることができます。ADVANTEST R3271は、最新の高速通信インターフェースで構築されており、通信インターフェース機器への高速データ転送を提供します。これにより、高速かつ正確な測定結果が得られ、データ転送の待ち時間が短縮されます。この電子試験装置は、コンポーネントグループ試験、ジャンクション容量試験、小型信号AC動的測定など、幅広い用途に使用できるように設計されています。精度、安定性、高速な結果により、半導体部品製造、設計、開発、故障解析に使用されています。R3271は、中小企業と大企業の両方のニーズを満たすことができる強力で汎用性の高い電子試験装置です。正確な測定、高速データ転送、高度にカスタマイズ可能なソフトウェアアーキテクチャを提供します。