中古 ADVANTEST R3267 #9154226 を販売中

ADVANTEST R3267は、集積回路、半導体、その他の電子部品の試験用に設計された電子試験装置です。それは高密度インターコネクトの短い長さのテストにとって理想的で、プリント基板の信頼性試験に使用することができます。R3267は、高繰り返し可能な結果を提供し、パルス応答時間を正確に測定し、高速デジタルデバイスの特性評価を可能にします。ADVANTEST R3267は、ソース/測定電圧、負荷電流、AC/DCテスト、同時パルス/波形生成、オフセット機能、ロジックテストなど、幅広いテストパラメータを備えています。R3267は試験速度と精度を向上させる目的で設計されています。高速スキャン帯域幅を備えており、迅速かつ正確なテストが可能です。その高再現性/確定性の高い正確なパルス応答により、複雑な高速デジタルデバイスのテストに成功しました。オフセット機能により、高速スイッチングアナログ部品の品質テストに必要な制御が可能です。ADVANTEST R3267は、即時に合格/不合格の基準を計算することもでき、ユーザーに自動結果を提供します。R3267のエッジ機能により、テスト中のデバイス上のノードを迅速かつ正確にテストできます。0/1遷移識別や伝搬遅延テストなどのデジタル回路をテストするための正確なタイミング調整を提供します。ADVANTEST R3267は包括的なデータロギング機能を提供し、テスト中のデバイスの特性と異常を詳細に表示できます。R3267のユーザーフレンドリーなインターフェイスは、手動エラーを排除し、全体的な生産性を向上させるように設計されています。DBMS （Database Management System）を内蔵しており、遠隔からアクセスでき、異なる形式でデータを閲覧することができます。これには、さまざまなステータス条件をユーザーに通知するようにプログラムすることができる組み込みのインテリジェンス機能が含まれています。ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、簡単なテストのセットアップと実行が可能です。ADVANTESTのR3267は厳密な国際規格に造られる部品と持続するために造られます。また、電気安全の国際規格にも準拠しています。テスト保護の下で改善された装置のために、それはセットアップ時間を減らし、テスト実行の間に安全を保障する作り付けの保護ネットワークを提供します。R3267は、高速かつ正確なデバイス試験に使用できる洗練された試験装置です。さまざまなスキャン機能、マルチビット機能、ユーザーフレンドリーなインターフェースを備えた幅広いテストパラメータは、ラボやエンジニアリングに最適です。