中古 ADVANTEST R3172 #9140093 を販売中

ADVANTEST R3172は、要求の厳しい試験アプリケーションで信頼性の高い性能と精度を提供するように設計された高性能の電子試験および測定デバイスです。R3172は、組み込みパターン生成や境界スキャン試験、ロジック、RF解析などの高度な技術を活用して、自動設計特性評価とテストを行います。また、デュアルチャンネルロジック解析、強力なモニタ機能、オシロスコープモードなどの強力なデバッグ機能も備えています。ADVANTEST R3172は、マルチチャンネルタイミング測定、プロトコルおよび波形解析を提供します。特許取得済みの波形生成機能により、ユーザーはテスト用のさまざまな波形と設定を生成できます。20GHzまでの高速デジタル信号、6GHzまでのアナログ/RF信号など、幅広い周波数に対応しています。ユニットは、上昇/下降時間、パルス/エッジ幅、デューティサイクルなどのパフォーマンスパラメータを測定するだけでなく、混合信号システムの出力のための電圧制御波形を生成するようにプログラムすることができます。R3172はまた、リアルタイムスペクトル解析機能を提供し、高度な信号解析のための過渡信号をキャプチャすることができます。ADVANTEST R3172は、幅広いデジタルロジック回路とメモリ回路を迅速かつ正確にテストするための高度な境界スキャン試験機能を備えています。複雑なデジタルシステムをテストするためのIEEE 1149。1規格をサポートしているため、回路基板の障害をすばやく検出および分離できます。IEEE 1149。6 JET Boundary Scan拡張をサポートし、チップスケールのコンポーネントをオンボードテストできます。R3172は、高度なスクリプト機能により、DUT （Device Under Test）を包括的に制御します。これにより、再現性と精度の自動テストシステムを迅速に開発できます。高速多機能データ収集システムと強力な数学操作により、複雑な信号を分析し、複雑な組込みシステムのデバッグを柔軟に行うことができます。ADVANTEST R3172はまた、複雑な回路や組込みシステムの設計とデバッグを簡素化するためのテスト用ベンチマークプログラムの包括的なライブラリも提供しています。このユニットは、過電圧、低電圧、過電流保護などの高度な電力監視も提供します。これにより、試験システムの消費電力を正確に測定することができます。組み込みの統計分析機能により、ユーザーは設計のパフォーマンスを簡単に分析できます。R3172は、広範囲のデジタル、ミックスドシグナル、RF、およびパワーアプリケーションを含む試験および測定アプリケーションに最適です。ADVANTEST R3172は、包括的な機能を備え、高性能テストシステムを開発するための信頼できるプラットフォームです。