中古 ADVANTEST R3162 #9029408 を販売中

ADVANTEST R3162は、半導体デバイス、集積回路を含むデバイスのテスト用の自動試験装置（ATS）です。これは、3GHzまでの信号を適用して測定することができる汎用性の高い柔軟性の高い試験システムです。ADVANTEST R 3162は、高い汎用性とオートメーション性で設計されており、正確な測定と高速での試験実行が可能です。R3162はコントローラ、メインフレーム、各種インターフェイスカードで構成されています。インターフェイスカードには、任意波形ジェネレータ（AWG）カード、アレイマルチプレクサ（AM）カード、デジタルパターンジェネレータ（DPG）カード、パルスパターンジェネレータ（PPG）カード、固定および測定用カードなどがあります。このカードの組み合わせにより、R 3162はウェハレベルの生産試験、故障診断、パルスピーク電流測定、周波数ドメイン測定、高速混合信号測定などのさまざまなテストを実行できます。ADVANTESTのR3162はいろいろテスト据え付け品および調査を収容できます。標準デバイスとカスタムデバイスの両方をテストできます。さらに、それに速くおよび有効なテストサイトに荷を積み、荷を下すことを作るシャトルの手の据え付け品があります。ADVANTEST R 3162は複数のテスターポートを使用して非常に平行なテストを実行することができ、全体的なテスト時間を短縮します。また、強力なデータ取得機能を備えており、データ取得レートは1秒あたり最大10,000ポイントです。この機能は、データロギングや波形解析の高速化に特に役立ちます。ユーザーフレンドリーなソフトウェアは、セットアップ時間を最小限に抑え、スループットを最大化するように設計されています。このソフトウェアは、インテリジェントウィザードを提供するグラフィカルユーザーインターフェイスと、テストを迅速かつ簡単に作成するためのドラッグアンドドロップワークベンチを備えています。さらに、R3162には統合されたデバッガとテスターマネージャが装備されており、ユーザーは1つのプラットフォームでテストを便利に設計、デバッグ、監視することができます。全体として、R 3162は強力で汎用性の高い試験機であり、半導体デバイス試験アプリケーションに最適です。その高度に自動化された柔軟な設計により、最も複雑なデバイス試験要件のニーズを満たすために、幅広い試験治具やプローブに対応できます。また、インテリジェントなソフトウェアとデータ取得率を組み合わせることで、高速なデータロギングや波形解析にも最適です。