中古 ADVANTEST R17051A #9108034 を販売中

ADVANTEST R17051Aは、エンジニアリングアプリケーションの包括的なポートフォリオを提供する自動半導体試験装置であり、複数の量産ランに高速で精密なテストを提供します。最先端のIC（集積回路）テストを必要とするお客様向けに設計されたR17051Aは、アナログ、デジタル、RF、デバイスの信頼性などのさまざまなテスト技術をユニバーサルプラットフォーム、単一のATE（自動試験装置）システムに統合します。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を搭載し、様々なデバイスを並列にテストする高速テストユニット（HSTS）を備えているため、他のシステムと比較してテスト時間の短縮が可能です。また、コストパフォーマンスに優れ、汎用ロジック回路、メモリデバイス、アプリケーション固有の標準製品（ASSP）からSOC（ツールオンチップ）まで、デバイスに適した効率的で信頼性の高いスループットを提供するよう設計されています。複数の構成で利用可能なADVANTEST R17051Aは、さまざまなアプリケーションのニーズを満たすように設計されています。コンパクトな10ビットデジタル-アナログ（D/A）コンバータ（複数のアナログテストをサポート）、コンパクト同期サンプリングスコープ（アナログ/RF信号の高速解析）、Apache Digital Pulse Generator（最新の超高混合超低電力デバイスを効率的にテストする）などの革新的な技術を備えています。オプションのeScan Optical Probing Assetとの統合により、微細部品の試験に優れたゲージ精度を提供できます。R17051Aには、高品質な信号生成やモデル精度、レポート生成、合格/不合格基準管理、RF測定、故障タイプ識別、パラメトリックおよび応答パラメータ解析などの高度な機能も備えています。さらに、インダストリー4。0準拠でデータセキュリティを強化し、生産性を最適化した安全な環境を提供します。さらに、ADVANTEST R17051Aは、ADVANTEST TesterManagerなどの包括的なソフトウェアソリューションによって支えられており、自動化された包括的でグラフィカルプログラミングシステムを構築するのに役立ちます。また、サードパーティ製ハードウェアおよびソフトウェアアプリケーションの包括的なセットと互換性があり、ハイスループット生産テストに最適です。R17051Aは、ほとんどのICテストアプリケーションのニーズを満たすように設計された、信頼性が高く、効率的で費用対効果の高い自動テストユニットです。直感的な設計、高速スループット、包括的なソフトウェアソリューションを備えたADVANTEST R17051Aは、幅広いアプリケーションに最適な選択肢であり、半導体テストに最適です。