中古 ADVANTEST R17050 #9170187 を販売中

ADVANTEST R17050は、集積回路およびその他の半導体部品の研究開発用に設計された高性能電子試験装置です。この装置は、半導体メーカー、設計エンジニア、研究室で様々な半導体デバイスの試験、分析、検証に使用されています。R17050は、最高速度5。7 Mbpsの優れた性能と、マルチレベルの電圧電源、インピーダンス測定、複数のクロック、さまざまなプログラム可能なテストなどの高度な機能を備えています。システムは、データシート、いくつかのハードウェアオプション、付属のソフトウェアパッケージを含むメインユニットを中心に設計されています。このユニットには、アナログ入力/出力（AIO）モジュールが搭載されています。このモジュールは、最大5Vのアナログ信号用の高解像度入出力インタフェースと、半導体デバイスの測定、テスト、分析、検証用の光波出力インターフェイスを提供します。Wave Measurement Unit Type 9030は、立ち上がり/落下時間、パルス幅、ピーク/バレー検出など、高精度の波形測定に幅広いオプションを提供します。計測点の数を調整したり、キャプチャ設定を変更したりすることで、計測範囲を調整できます。波形は、最大128チャンネルの広い周波数範囲でキャプチャでき、すべてが1つのスナップショットで収集されます。Testlet Adapter Type 17000を使用すると、ADVANTEST R17050は高いピンカウント集積回路（IC）をテストできます。このアダプタは、包括的なテストプログラムと、自動ビットエラーレート測定や画面上のデバッグなどの高度な機能を提供します。テストは、故障解析を含むソフトウェアによって各デバイスタイプに合わせて調整することができます。このマシンは、自動パラメータチェックとデバイス校正のための一連のソフトウェアオプションを提供します。このツールには、ポゴピン、デバッグプローブ、高度な試験治具など、ソケットとアダプタの包括的なセットも含まれています。これらは、テスト信号とデバイスとの正確な接触のための容易なアクセスを提供するように設計されています。使いやすさは、デバッグやチューニング時の複雑さを軽減するように設計されたさまざまなツールと機能を提供するプロファイラソフトウェアによって提供されます。R17050は、幅広い半導体デバイスを正確かつ迅速に評価できるオールインワンテストソリューションです。その一連の機能とハードウェアオプションは、最新の半導体技術の開発とテストに必要な柔軟性と性能を提供します。