中古 ADVANTEST Q8331 #9154363 を販売中

ADVANTEST Q8331は、高出力および高周波半導体デバイスの試験用に設計された電子試験装置です。従来の測定（DC特性）と特殊な高速測定（AC特性）の両方に対応しています。DCソース（最大200V/20A）と高速デュアルチャネルオシロスコープ（最大200MHz）を備えています。オシロスコープは、高速過渡試験用のオプションの2チャンネルモジュールも備えています。この製品は、精度を向上させながら、ユーザーの労力とテスト時間を削減するように設計されています。ゲイン、ブレークスルー電圧、スレッショルド電圧などの半導体パラメータの範囲を測定するために使用できます。ダイレクト電流源は高速かつ正確なパルス試験を可能にし、デュアルチャネル測定モジュールはミックスドシグナルおよびパワーデバイス試験を可能にします。Q8331により、ユーザーは1つのセットアップで複数のテストを完了できます。ソースメジャー、ソースメジャステップ、DC/AC、パルステストなどのマルチモードテストに対応しています。また、サブナノ秒の精度で電力を測定するための統合VReffジェネレータも含まれています。さらに、ユーザーの安全を確保するために過電流および過熱保護が装備されています。ADVANTEST Q8331は汎用性が高く、さまざまなテスト環境で使用できます。小信号（AC）パラメータと大信号（DC）パラメータの両方を含む、大きなダイナミックレンジのパラメータを正確に測定できます。さらに、方形波、ランプ、正弦波、三角波、パルス幅、波形歪みなど、幅広い試験波形パラメータを提供します。最後に、Q8331は非常に耐久性と信頼性が高く、耐衝撃性と耐振動性を兼ね備えた長寿命の設計です。厳格な品質管理基準に準拠し、320Vの誘電強度を有しています。これにより、電源障害を心配することなく、厳しいテスト環境で使用できるようになります。したがって、ADVANTEST Q8331は、高出力および高周波半導体デバイス試験に最適なテストソリューションです。