中古 ADVANTEST Q8326 #9138085 を販売中

ADVANTEST Q8326は、半導体デバイス、ロジックメモリ、光ネットワークなどの自動車用電子部品を試験するための高性能で柔軟な自動試験装置（ATE）ソリューションです。Q8326は、自動テストパターン生成（ATPG）、レーザパルス測定（LPM）、パラメトリック測定ユニット（PMU）など、さまざまな試験技術を使用して自動車部品をテストするように設計されています。ADVANTEST Q8326は、独自の組み込み、高速、柔軟なスイッチングマトリックスを使用しており、複数のデバイスを並列にテストできます。高速メモリやロジックデバイスなどの強力な半導体デバイスをテストするための幅広いスイッチングテストコンディショナを備えています。Q8326は、多種多様なデジタルおよびミックスドシグナルテストソリューションと高速並列テストをサポートしています。ADVANTEST Q8326は、非常に正確な測定と迅速な応答時間で、高精度、高速、および高スループット機能を提供します。その精度は、デジタルデバイスの2µV/nsと5ppm/MHzまでです。そしてアナログ装置のための200mV/100MHzそして4ppm/MHz。テストのサイクルタイムは通常、テストパターンに応じて1ミリ秒です。試験装置は、500kHzから10GHzまでの幅広い信号周波数範囲を生成することができます。また、専用のI/Oバッファを備えた高度なマルチチャネルプログラマブルテストバスシステムを備えており、スタンドアロンの自動テストを実行します。Q8326には、テストカバレッジを高速化するために、外部および内部の両方のトリガー信号用のプログラム可能なトリガーユニットがあります。また、トータルATEソリューションのための多種多様なオートメーションハードウェアおよびソフトウェアソリューションをサポートしています。インストゥルメントはまた、高速デバッグとプログラム可能なテスト実行のためのテストルーチンのライブラリをサポートしています。そのユーザーインターフェイスは、カスタマイズされたテストプログラムを生成するために使いやすいです。全体的にADVANTEST Q8326は、自動車の電子部品を正確に測定およびテストするための信頼性の高い効果的な自動試験装置システムです。それは優秀な性能、柔軟性および速いテスト時間を提供している間試験技術および高精度レベルの広い範囲を提供します。