中古 TEL / TOKYO ELECTRON AQA-K09-TYP2 #9196551 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON AQA-K09-TYP2 Proberは、先進的なフロントエンド半導体製造プロセス向けに設計された高精度ウエハプローバです。プローバは、ウェーハプロセス工程の信頼性と効率的なテストを可能にするように設計されており、すべてのパラメータにわたって非常に高い歩留まりを持つ高度に変調されたVDA（蒸着アレイ）機能を含む、最も先進的なデバイスアセンブリを処理するように設計されています。Proberには高度な内蔵AFM機能（Atomic Force Microscopy）が搭載されており、層の厚さや構造の信頼性の高いナノスケール測定が可能です。AFM機能は、スキャンおよび分析パラメータを最適化するように設計されており、複雑な構造からでも高精度でスループットのデジタルデータを取得および分析することができます。Proberはまた、処理手順の前後にプロセスレシピを最適化する機能を含む、さまざまなプロセス制御機能を提供します。これにより、プロセス経路の微調整が可能になり、究極の信頼性と歩留まりが得られます。Proberは、試験中に温度の小さな変化を検出することができ、プロセスサイクル全体で正確な温度制御を可能にします。また、TEL AQA-K09-TYP2は試験時間を大幅に短縮し、プロセス全体の効率とスループットを向上させるように設計されています。また、Proberには高度なデータロギングとデータアーカイブ機能が搭載されているため、テスト結果とプロセスパラメータの効率的で集中的なストレージと取得が可能です。Proberは、フラッシュメモリからマイクロプロセッサコンポーネントまで、幅広いウエハータイプをプローブするように特別に設計されています。これにより、Proberは使用される材料やプロセスに関係なく、最新のウェーハ技術の特性を正確に測定することができます。さらに、Proberは最先端のプローブアルゴリズムの校正とテストが可能で、最高の精度と信頼性を保証します。最後に、TOKYO ELECTRON AQA-K09-TYP2は完全に自動化されたシステムであり、プロセス全体のリモート設定、操作、監視を可能にします。Proberのユーザーインターフェイスは、使いやすさと安全性のために最適化されており、プロセスのあらゆるステップで重要な情報やパラメータにすばやくアクセスできます。全体として、AQA-K09-TYP2 Proberは高度で信頼性の高いウェーハテスト機能を提供しており、最小限の時間で高精度で信頼性の高い結果を達成するように設計されています。これは、高度なバックアンドエンド半導体生産プロセスのための信頼性の高い効率的なツールです。