中古 TDBI DM 1900N #9177412 を販売中
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ID: 9177412
ヴィンテージ: 2013
Burn-in tester
Chamber:
(1) Chamber
(1) Zone
ALPG: Per site
(24) Slots
Driver / BIB Ratio: 1 : 1
Slot pitch: 40 mm
Temp control range: -10° C ~ 150° C
Temp logging: Software logging
Temp rising time: 60 Min
Temp falling time: 60 Min
Pattern generator:
Method: ALPG
Max. test rate: 10ns (100MHz)
(2048) Micro steps
Address generator: 48bit (X:24bit, Y:24bit), Z:24bit for flash
Data generator: 18 Bit
Address arithmetic: +, -, <, >, <>, &, |, ^
Data arithmetic: '+, -, <, >, <>, &, |, ^, ~
Register sets: 18 Bit
(16) Nested loops: Loop 0 ~ loop 15
Mux mode: X-Y
Vector memory: 1M x 32 Bit
Index register arithmetic: +, -
Timing generator:
Cycle time range: 10 ns ~ 40.96 us
Cycle resolution: 100 ps
Timing resolution: 100 ps
Timing set: Multi groups (64) sets
Timing generator method: Edge mode
Edge setting range: 0 ns ~ 2 Rate – 10ns
(22) Clocks
(8) Scan clocks: Octal random scan
(2) DRE Clocks: I/O_A & I/O_B
(2) STB Clocks: I/O_A & I/O_B
Scramble generator:
Address scramble: Programmable
Address scramble method: Logic
Address scramble arithmetic:
AND, OR, EXOR, INVERT, XY MUXED
Data scramble: Programmable
Data scramble method: Logic scramble
Data scramble arithmetic:
AND, OR, EXOR, INVERT, I/O SEPARATE
Disable scramble: Programmable
Data & Address arithmetic: Muxed
(8) Scramble sets
Power:
No. of PS: PS1,2,3,4,5,6,7
PS range:
PS1/2/3/4: 0.5 ~ 5.0V / 30A
PS5: 1.0 ~ 15.0V / 10A
PS6/7: 0.6 ~ 5.0V / 4A
PS Merge mode: X
Voltage resolution:
PS1/2/3/4/5: 10.0 mV
PS6/7: 10.0 mV
Power noise: 100mV
Bump test
Power sequence
Driver / Comparator:
ISINK / ISOURCE: 24mA
VIH1: 1.0V ~ 3.3V
VIH2: 1.0V ~ 3.3V
VTH(Vol/Voh): 0.5V ~ 3.5V
Voltage set resolution: 10mV
Tr/Tf of Vih1 / VIh2: < 2ns ( @ no Load 3Vp-p)
Over / Under shoot: Less than ± 10%
Output channel:
Total VIH1 VIH2
Address 128 32ch x 4 -
Clock 88 11ch x 4 11ch x 4
Scan 32 4ch x 4 4 ch x 4
I/O 144 18ch x4 18ch x 4
(16) Ready / Busy
Impedance: 50Ω
Sofware:
System OS: LINUX (CENTOS)
PC:
Dual core 2.93GHz
DDR2 4GB
SATA 500GB
Program language: C++
Main OS: DMCircle
Compiler: DMEdit
Chamber control: DMChamber
Diagnostic: DMDiag
Result viewer: DMUtilviewer
2013 vintage.
TDBI DM 1900Nは、将来の損失を防ぎ、製造効率を向上させるために、電子部品、サブアセンブリ、システムを分析および分解するために設計された高性能バーンイン装置です。このシステムには、コンポーネント試験用の4つの高密度VMEスロット、リアルタイムデバッグ用のマルチタスクプロセッサ、さまざまなタスクに合わせたインテリジェントな構成エンジンが含まれています。DM 1900Nには、制御可能な高温オーブンと直流電源ユニットが付属しており、どちらもバーンインおよびエージング試験に使用できます。最大4つの独立した標準VMEスロットとさまざまなCompactPCIスロットを備えたバーンインユニットは、さまざまなアプリケーションのニーズに対応する柔軟で汎用性の高いソリューションを提供します。また、幅広いアナログおよびデジタルI/O、組込み試験および測定コンポーネント、および周辺機器にも対応しています。TDBI DM 1900Nは、各ゾーンに調整可能なセットポイントを備えた最大4つのバーンインゾーンをサポートし、ユーザーは必要な正確な温度を設定できます。このマシンには、デバイスが仕様内に保たれるようにするために使用される洗練された熱管理ツールもあります。また、DM 1900Nには統合された監視資産があり、バーンインプロセス中にすべてのコンポーネントを継続的に監視し、データロギング機能を提供します。TDBI DM 1900Nの統合された仮想計測機能により、ユーザーはさまざまなテストとプログラミングアルゴリズムを実行および分析できます。また、データ収集および信号校正コンポーネント、包括的な解析ツール、包括的な開発環境も備えています。モデルも拡張可能で、必要に応じてより多くの機能や機能を追加することができます。DM 1900Nは、信頼性とパフォーマンスのための最も厳しい業界標準を満たすように構築されており、最も要求の厳しい環境向けに設計されています。その結果、信頼できる正確な結果を毎回提供することができます。
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