中古 MICRO CONTROL COMPANY / MCC LC-2 #293816257 を販売中
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ID: 293816257
ヴィンテージ: 2012
Burn-in ovens
(8) test slots
128 I/O channels
Single wide board
Cooling system nonfunctional
Power: 208 V, 125 A
2012 vintage.
MCC (MICRO CONTROL company) MICRO CONTROL company/MCC LC-2は、極端な熱的および電気的応力条件下での半導体デバイスの試験および認定を目的とした高度なバーンイン装置です。このバーンインシステムは、重要なアプリケーションに展開する前に、半導体デバイスの潜在的な欠陥の検出を高速化するための汎用性と信頼性の高いプラットフォームを提供します。MCC LC-2は優れた性能、柔軟性、効率を提供し、高品質のバーンイン試験を求める半導体メーカーにとって理想的なソリューションです。MICRO CONTROL社LC-2バーンインユニットは、最新の半導体試験の厳しい要件を満たすために最先端の機能と機能を備えています。このマシンは、厳しい環境で長期的な信頼性と一貫したパフォーマンスを確保するために、堅牢で耐久性のある設計で構築されています。LC-2は、ロジックIC、メモリデバイス、マイクロコントローラ、その他の集積回路など、幅広い半導体デバイスに対応するように設計されています。MICRO CONTROL 社/MCC LC-2バーンインツールの主な特徴の1つは、その正確な温度制御機能です。このアセットには高度な温度管理システムが装備されており、バーンインテスト中のテスト(DUT)温度でデバイスを正確に制御できます。温度制御モデルは、DUTがストレス下での信頼性の高い試験とその性能の評価に必要な特定の熱条件に服従することを保証します。また、MCC LC-2バーンイン装置は、半導体デバイスの実際の動作条件をシミュレートする高度な電気応力機能を提供します。このシステムは、その性能と応答を監視しながら、電圧や電流応力を含む幅広い電気信号をDUTに適用するように設計されています。これにより、半導体メーカーは、デバイスの信頼性、寿命、および高ストレス条件下での性能に関する潜在的な問題を特定することができます。バーンインユニットは、温度および電気応力機能に加えて、テスト中LC-2 DUTのパフォーマンスを追跡するための包括的な監視およびデータロギング機能を提供します。このマシンにはユーザーフレンドリーなインターフェースが装備されており、オペレータはテストパラメータの設定、テストの進行状況の監視、テスト結果のリアルタイム分析を行うことができます。LC-2のデータロギング機能により、半導体メーカーは、バーンイン条件下でDUTの性能を評価および分析するための詳細なレポートを生成することができます。MICRO CONTROL company/MCC LC-2バーンインツールは拡張性を念頭に置いて設計されており、半導体メーカーは必要に応じてバーンインテスト能力を拡張できます。このアセットは、既存のテスト設定や生産ラインに簡単に統合でき、大量の半導体テスト要件にシームレスなソリューションを提供します。MCC LC-2のモジュール設計により、特定の試験ニーズへの容易なカスタマイズと適応が可能となり、半導体メーカーにとって汎用性と費用対効果の高いソリューションとなります。全体として、マイクロコントロール社LC-2バーンインモデルは、半導体バーンインテストのための包括的で高度なソリューションを提供しています。優れた性能、精密な温度制御、電気応力、データロギング機能を備えたLC-2は、半導体デバイスの潜在的な欠陥を特定して対処するための信頼性の高いプラットフォームを半導体メーカーに提供します。装置の汎用性、拡張性、ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、高品質のバーンインテストソリューションを求める半導体メーカーにとって理想的な選択肢となります。
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