中古 SSM 470i #160237 を販売中

Cascade MicrotechのSSM 470iウェーハ試験および計測機器は、業界をリードする半導体テストおよび故障解析機能を提供する次世代の設計および検証ワークステーションです。このシステムは、費用対効果の高い高性能ソリューションを提供しながら、最も困難なテスト、測定、および分析要件に最適化されています。一貫した精度と再現性を提供するように設計されており、200 msの正確なドウェル時間で最大4,200ケルビンの試験温度機能を提供します。470iは、SOI、 SiGe、 BV/FET、化合物半導体、GaAsなどの新興技術を含むさまざまな技術向けに設計されています。チップとパッケージからユニットレベルへの設計統合をサポートし、正確な特性評価機能により効率的なテストと歩留まりの最適化を可能にします。SSM 470iは高度にカスタマイズ可能で、お客様の要件を満たすためのツールを備えています。マシンフレキシブルアーキテクチャは、最新の高度なトラブルシューティング方法とテストプログラムの開発、メンテナンス、実行のユーザーコントロールを提供します。470iはウェーハプロービングおよび計測機能の広い範囲を提供します。このツールには、QA-370i Test Controller、 QA-370ii Test Controller、 MT-370 Test Programmerなどの統合されたハードウェアとソフトウェアパッケージも含まれています。このアセットの独自のデータ取得および分析機能により、幅広いアプリケーションでデータの精度と再現性が向上します。さらに、SSM 470iは強力なグラフィックユーザーインターフェイスを備えており、操作が簡単で使いやすいです。幅広い高性能ソフトウェアツールと統合されており、自動テストプログラム、データ収集、データ分析、統計分析機能を提供しています。470iのソフトウェアツールは、あらゆる種類のテストプログラムを簡単に作成できます。このモデルは、すべてのプローブカードとチャンバの高スループットスキャンを備えており、オペレータのエラーを低減し、手間のかからないテストプログラミングのための自動アライメントを備えています。また、優れた信頼性と再現性を備えているため、信頼性の高い試験結果を一貫して得ることができます。SSM 470iウェハテストおよび計測システムは、効率的な設計、高度な機能、構成オプションを通じて、あらゆる半導体テストおよび故障解析要件に最適なソリューションです。