中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX 6200 Surfscan #9212150 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX 6200 Surfscanはウェハテストおよび計測機器です。半導体ウェーハのウェーハ表面解析および計測用に設計されています。光学顕微鏡（OM）、スペクトル反射（SR）、表面プロファイル（SP）、原子力顕微鏡（AFM）、散乱計（SC）、光学CD （OCD）など、複数の技術を単一のツールに統合します。KLA 6200サーフスキャンは、ステップハイト、平坦度、微小荷重、局所厚、地形、組成、屈折率など、幅広い表面特性をすばやく測定できます。これらのパラメータは、ウェーハ表面の品質を決定するのに役立つ不可欠なデータです。TENCOR 6200 Surfscanは、高分解能の光学顕微鏡と分光計を備え、微細な表面ニュアンスさえも検出できます。6200 Surfscanは、幅広いデータを取得できるほか、独自の自動制御システムを搭載しています。このユニットは、さまざまな種類の表面に対応するために測定パラメータの自動調整を容易にします。これにより、ユーザーは簡単かつ迅速にウェーハ上で必要なすべてのテストを実行することができます。PROMETRIX 6200 Surfscanのデータ収集機も効率的で信頼性が高いです。このツールを使用すると、複数の読み取りを同時に取得できます。読み取り値は、将来の参照のために資産の内部メモリに保存されます。このメモリは、さまざまな種類のアプリケーション固有の分析にも対応しています。KLA/TENCOR/PROMETRIX 6200 Surfscanには、大型LCDスクリーンを備えた直感的なユーザーインターフェイスも装備されています。これにより、コマンドを迅速かつ明確に実行できる使いやすい環境を提供します。さらに、そのタッチスクリーン機能は、モデルをさらにユーザーフレンドリーにします。全体として、KLA 6200 Surfscanは、半導体ウェーハ解析用の使いやすく、信頼性が高く、堅牢なウェーハ試験および計測機器です。幅広いデータをすばやく取得し、将来の参照のために正確に保存することができます。その自動制御システムは、測定パラメータが必要に応じて調整されることを保証します。最終的に、ユーザーフレンドリーなインターフェイスは単位の容易な操作そして制御を保障します。