中古 KLA / TENCOR 7700 Surfscan #184437 を販売中

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KLA / TENCOR 7700 Surfscan
販売された
ID: 184437
SURFSCAN, patterned wafer inspection systems, 8".
KLA/TENCOR 7700 Surfscanは、半導体生産ライン用途向けに設計されたウェーハ試験および計測機器です。200mmおよび300mmウェーハでの高い歩留まりとスループットを可能にする、完全自動化されたウェーハ欠陥検査および分析システムです。KLA 7700サーフスキャンは、特許取得済みの高度な検出アルゴリズムを使用して、ウェーハ表面の欠陥を検出します。このアルゴリズムにより、最小のフィーチャーサイズよりも小さいユニットでも欠陥を検出できます。自動フォーカシングマシンも組み込まれており、高精度な測定が可能です。アセットには改良されたマルチチャネル機能も組み込まれており、同じサーフェスの複数の画像を同時にキャプチャできます。TENCOR 7700サーフスキャンモデルは、さまざまなセンサー、レーザー、光学系を使用して、検査用のデータをキャプチャします。高度なセンサは、ノイズを最小限に抑えてウェーハ表面の高解像度画像を取得することができます。そのレーザーは、高精度で、欠陥やその他の特徴の高さを測定するために使用されます。装置の光学は調節可能で、観覧および観覧区域の角度を変えるのに使用することができます。7700 Surfscanは、データ分析、品質保証、アーカイブ機能を統合しています。また、計測、イメージング、地形、拒絶データなど、さまざまなデータ型を取得することができます。このデータは、製造上の欠陥を最小限に抑えるために必要な分析を顧客に提供するために分析、アーカイブ、レポートされます。システムには、欠陥、故障モード、および原因に関するレポートを生成できる分析も含まれています。全体として、KLA/TENCOR 7700 Surfscanは、効率を最適化し、半導体生産ラインでの歩留まりを最大化するように設計された、強力で信頼性の高いウェハテストおよび計測ユニットです。ウェーハ欠陥の検出と品質保証に適しています。KLA 7700 Surfscanマシンは、高度な検出アルゴリズムと高度なセンサ、レーザー、および光学系を活用することで、生産時間や歩留まりを犠牲にすることなく、高品質な結果を提供することができます。
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