中古 KLA / TENCOR 7700 Surfscan #158595 を販売中

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KLA / TENCOR 7700 Surfscan
販売された
ID: 158595
ウェーハサイズ: 8"
Wafer inspection system, 8" Can accommodate wafers from 2 to 8" dia. Sensitivity - Particle: .117 micro-meter dia. latex spheres with >90 percent capture rate Haze: 1 ppm minimum Cassette to cassette handling Detects defects as small as 0.15 µm Defects below 0.2 µm can be detected on many process levels, including nitride, oxide, polysilicon and TEOS films.
KLA/TENCOR 7700 Surfscanは、ウェーハ表面品質管理のための信頼性の高い強力なソリューションを提供するウェーハ試験および計測機器です。このシステムには、高解像度イメージング、自動検査、高速データ解析を提供するハイスループット光学顕微鏡が含まれています。最大20mmの視野が印象的なこのユニットは、ウェーハ表面全体を迅速かつ正確にスキャンできます。KLA 7700 Surfscanは、高品質のパフォーマンスを保証するために、いくつかの先進技術を使用しています。統合されたストロベッドレーザーマシンを備えており、ブライトフィールドとダークフィールドの両方のイメージングモードでウェーハ表面の詳細な高精細画像を提供します。このツールはまた、自動欠陥検出と分類のためのいくつかの高度なアルゴリズムを利用しています。さらに、TENCOR 7700 Surfscanは、オンウェーハフォーカス、クリティカル寸法測定、エッジおよびエッジプロファイル測定、3次元測定など、幅広い自動計測機能を提供します。7700 Surfscanは信頼性が高く使いやすいソフトウェアプラットフォームも提供しています。このソフトウェアは、直感的なユーザーインターフェイス、自動欠陥レビュー機能、強力なデータ分析ツールを提供します。さらに、この資産にはネットワーク接続とデータ転送があり、ウェハテストおよび分析データベースの管理が容易になります。その後、品質管理データをソートして分析することで、ウェーハ表面の性能と信頼性に関するリアルタイムのフィードバックを提供できます。全体として、KLA/TENCOR 7700 Surfscanは堅牢で高品質のウェハテストおよび計測ソリューションです。直感的なソフトウェアプラットフォームと堅牢なネットワーク接続を備えた高度なイメージングおよび検出技術により、このモデルはあらゆるウェハテストおよび分析環境において非常に貴重な資産となります。強力な性能とユーザーフレンドリーな設計により、KLA 7700 Surfscanは、研究および産業用アプリケーションの両方でウェーハの品質と信頼性を確保するための信頼性の高い効率的なソリューションを提供します。
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