中古 KLA / TENCOR 2367 #9012614 を販売中

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ID: 9012614
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2006
Brightfield inspection system, 12" Install type: stand-alone Cassette interface: (2) Asyst 300mm FIMS LPs (2) AdvanTag SW CID, G4 E84 for OHT with PIO for G4 E40/E94 HW support Pre-aligner Main unit: Brooks robot BB visible pixels (um): 0.62, 0.39, 0.25 BB/I-Line/G-Line UV pixels (um): 0.20, 0.16, 0.12 Edge contrast Array and random modes High mag review optics High resolution review CCD Anti-blooming TDI IS station: Status lamp (R, Y, G, B, Audible) 1600 MPSS image computer Operating system: Windows 2000 Application SW ver: 10.4.507.0.5 GEM/SECS and HSMS Power line conditioner Remote power EPO Facility requirements: CDA Vacuum (house) Power (main): 208 VAC, 16 A, 3 phase, 5 Wire (WYE), 50/60 Hz Damaged / missing parts: Assy, CC W backplane, CRTAESCAPE – COBRA, Part No. 0080512-000 Assy, PS2, 36/56VDC 91XX, 93XX, 2367 (exchange), Part No. 0281722-000 FRU, 2366, FPA-base (exchange), Part No. 0111806-000 Assy, FPA arm without A&C apertures, Part No. 0112397-001 Robot (exchange) Robot controller (exchange) Can be inspected 2006 vintage.
KLA/TENCOR 2367マスク&ウェーハ検査装置は、半導体製造用に特別に設計された高精度の自動ウェーハおよびフォトマスク計測および検査システムです。このユニットは、フォトマスクおよびベアシリコンウェーハ表面を生産ラインで検査するための高速で信頼性の高いソリューションを提供します。KLA 2367マシンは、高度なインクジェット技術を使用して、紫外線(UV)蛍光検査の配列をフォトマスクまたはウェハに堆積させます。これらのマーカーは、相補的な充電結合デバイス(CCD)アレイカメラによってイメージされるフリンジパターンを生成するハイパースペクトル光源によって照らされます。フリンジパターンは、フォトマスクまたはウェーハの表面プロファイルを推定するために使用され、ユーザー定義の仕様と比較されます。このツールは、ソフトウェアアルゴリズムを使用してデータを処理および分析し、表面の異常や特徴を検出します。TENCOR 2367マスク&ウェーハ検査アセットには、半導体生産の精度と生産性を向上させるためのいくつかの利点があります。モデルは、マスクパターン認識のための最適な視野範囲と焦点の深さを提供するために配置されている複数のCCDカメラで構成されています。これにより、測定精度が向上します。ウエハ検査には、UV分光法を使用して、ウエハフラット、ワープ、ピンスポッティング、ステップ高さを検出します。このシステムは、改行、ゲートブリッジ、酸化結節などの一般的な欠陥を検出するようにプログラムされています。また、オプションのオートメーションオプションにより、正確な検査のために、光源と相対的にウェーハまたはマスクの位置を自動的に一致させることができます。2367マスク&ウェーハ検査機は、半導体メーカーが製品の品質管理を確保しながら、全体的な検査コストを削減できる高度な生産性向上ソリューションです。このツールの強力なソフトウェアアルゴリズムは、ウェーハとフォトマスクの真の3D解析を提供し、高精度な結果を提供します。さらに、ワークフローを改善し、本番スループットを向上させるために、オプションのオートメーションモジュールで構成することもできます。
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