中古 EPIPLUS / ETAMAX LIF-100 #9180604 を販売中

EPIPLUS/ETAMAX LIF-100 Wafer Testing and Metrology Equipmentは半導体産業のための高度で完全に自動化されたウェーハ試験および計測ソリューションです。ウェーハの物理的、電気的、光学的特性の信頼性と正確な分析を提供するように設計されています。最新の高精度イメージング・解析技術を搭載し、サブミクロンレベルまでのウェーハパターン解析が可能です。ETAMAX LIF-100は、ウェーハ表面特性を効率的かつ正確に測定するために設計されています。線幅、パターン領域、寸法、表面バンプなど、さまざまなパラメータを測定できます。また、完全に統合されたダークマーキングユニットを備えており、線幅やその他の機能を高速かつ正確に測定できます。このマシンは、1ミクロンの解像度で、1〜12インチのサイズのウェーハを測定することができます。EPIPLUS LIF-100は、毎秒2000万を超えるデータポイントを処理できる強力なコントローラを搭載しています。これにより、ウェーハパターンを迅速に分析し、物理的および電気的特性を決定することができます。また、内蔵インピーダンスメータLIF-100使用して薄膜層の厚さを測定することができます。これにより、正確で信頼性の高いレイヤー解析とプロセス制御が可能になります。EPIPLUS/ETAMAX LIF-100は、ユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェイスを備えており、資産の簡単なセットアップと操作を可能にします。自動化されたデータ収集および分析のためのデータ収集ハードウェアおよびソフトウェアが装備されています。さらに、このソフトウェアは、統計分析にカスタマイズ可能なグラフィックスを提供し、オペレータに情報に基づいた意思決定を行うために必要な情報を提供することができます。ETAMAX LIF-100もセットアップと操作が簡単に行えるように設計されています。統合されたサンプルステージとカラータッチスクリーンインターフェイスを備えており、自動計測システムと統合することができます。高速なチューンセンシングとセットアップのために設計されており、サンプルの正確な取り扱いと輸送のための自動真空ロボットが装備されています。これにより、ワークフローを迅速化し、サンプリング精度を向上させることができます。EPIPLUS LIF-100ウェーハ試験および計測モデルは、集積回路ウェーハおよび材料の高精度で信頼性の高い解析を提供します。この装置は、精度、速度、利便性を考慮して設計されており、試験時間の改善、コストの削減、製造プロセスの精度と信頼性の向上に役立ちます。