中古 ADE / KLA / TENCOR 9300 #9265420 を販売中

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ADE / KLA / TENCOR 9300
販売された
ID: 9265420
ウェーハサイズ: 8"
Ultrascan wafer inspection system, 8".
Advanced DesignADE/KLA/TENCOR 9300ウェハテストおよび計測システムは、高度な光学計測アプリケーション向けに設計されています。4軸統合の大型計測ヘッドを備え、さまざまな効率的な検査機能を備えています。ADE 9300は、最大4つのサンプルを同時に光学測定できるため、薄膜と厚膜の両方の構造を迅速かつ正確に測定することができます。このシステムの4軸メトロロジーヘッドには、波長調整可能なダイオードレーザー、広いスペクトル範囲、および高度な光学系が装備されており、迅速で信頼性が高く、高精度な測定が可能です。高解像度カメラは正確な測定を可能にし、高い空間分解能は良好な検出感度を保証します。KLA 9300には、簡単なアライメントとサンプルハンドリングのための統合されたサンプルステージと、正確な測定を保証するための専門サンプルサポートアームも含まれています。TENCOR 9300は、ダイレベル測定、薄膜測定、プロセス検出など、幅広いアプリケーションを提供します。その柔軟な設計により、既存のファクトリーオートメーションソリューションに統合することができます。モジュール性は、さまざまな生産ニーズに合わせてさまざまな検査機能を提供します。9300の統合計測機能により、セットアップと操作が容易になり、迅速で正確な測定が可能になります。その強力なソフトウェアは、ダイレベル測定から薄膜測定まで、さまざまなアプリケーションで正確な結果を保証します。ユーザーフレンドリーなインターフェイスにより、直感的で操作が簡単です。ADE/KLA/TENCOR 9300の先進的な光学系および構成可能なソフトウェアにより、信頼性の高い再現可能な測定が可能になり、生産歩留まりの最適化に役立ちます。自動化されたアライメント機能により、迅速かつ簡単にセットアップでき、時間に敏感なアプリケーションに最適です。要約すると、ADE 9300ウェーハテストおよび計測システムは、迅速で正確で信頼性の高い測定を必要とするアプリケーションに最適なソリューションです。統合された4軸測定ヘッド、柔軟なサンプルステージ、専用サンプルサポートアーム、高解像度カメラ、およびユーザーフレンドリーなソフトウェアにより、幅広い生産ニーズに最適です。
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