中古 PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9380532 を販売中

PHILIPS/FEI Tecnai F30は、材料研究に優れたイメージング機能を提供する走査型電子顕微鏡（SEM）です。FEI F30は、さまざまなSEMアプリケーション向けの汎用性の高いプラットフォームです。それは要素分析および表面の形態特性化を含む適用のための容易な、高性能装置です。PHILIPS TECNAI F 30は、あらゆるサイズのサンプルに0。2nm以上の解像度を提供する高解像度イメージングモードを備えています。ユニークなカラム設計により、優れたイメージング結果を得るために、すべての倍率で色収差のない動作を可能にします。数百ボルトから30 kVまでの超低kVオプションにより、PHILIPS/FEI TECNAI F 30は幅広いサンプルの画像を生成できます。Tecnai F30はまた、サンプルの組成と構造に関する詳細な洞察を提供する分析機能の範囲を持っています。そのエネルギー分散型X線分光法（EDS）システムは、優れたエネルギー分解能を持つ元素解析を提供します。高感度のエネルギーフィルタリング検出ユニットを搭載し、5keVで90％以上の検出効率を実現します。MALA （Multi-Adjacent Layer Analysis）を使用すると、単一のスキャンでサンプルを最大3層まで評価できます。さらに、PHILIPS/FEI F30では、電界放出FEG銃を使用して高速で信頼性の高い結果を得られ、ファラデーのカップセコンダリ電子検出器で正確な電流測定を行います。これは、単一のスキャンでイメージング、EDS、およびオーガードレイン電流イメージング（ADCI）のための分割電子銃の配置を持っています。最後に、PHILIPS Tecnai F30は、フルカラーのタッチパネルインターフェイス、可変画像回転、自動サンプルチェンジャーを備えた使いやすい制御機で構築されています。多目的で直感的な制御ソフトウェアは操作、セットアップおよびデータ分析を可能にします。これにより、どんなスキルレベルのユーザーでも簡単で簡単な操作が可能になります。結論として、F30は優れたイメージング機能と広範な分析機能を備えた高性能スキャン電子顕微鏡です。その多目的な設計は容易な操作およびセットアップ、また高度の分析機能を可能にします。そのため、FEI Tecnai F30は材料特性評価と研究に最適です。