中古 JEOL JSM 6500F #9198805 を販売中

JEOL JSM 6500Fは、幅広い用途向けに設計された高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。この高度な顕微鏡ツールは、さまざまなイメージングおよび分析タスクに比類のないレベルのパフォーマンスと柔軟性をもたらします。JEOL JSM-6500 Fは、独自の可変圧力モードと、より広いサンプル領域を鮮明にキャプチャする新しい最先端の広視野検出器を備えています。オプションの自動ガンアライメントシステムにより、イメージングおよび分析タスクがより迅速かつ正確になります。ガンアライメントシステムは、対物レンズの焦点、銃の電流、および標本の傾きを迅速かつ正確に設定します。JSM 6500F SEMには、ワークフローを改善するための高度なイメージングソフトウェアも組み込まれています。SEMの強力な自動化されたステージムーブメントにより、パノラマおよびプリプログラムされた動きを使用して迅速かつ正確なイメージングが可能です。そのデジタルイメージングシステムは、ユーザーがサンプルのシャープな画像をキャプチャすることができます。JSM-6500 Fは、非常に小さなソースからサンプルまでの距離を持つ強力なSEMです。このほぼゼロのソースからサンプルまでの距離は、極めて高解像度であり、細部までキャプチャできます。この機器は、高解像度のイメージング機能を提供し、画像の鮮明性を達成するための自動パラメータを提供します。JEOL JSM 6500Fは、試料の調製と分析のためのさまざまな技術をサポートしています。例えば、特殊なホルダーを使用して、大きな標本や曲面を持つサンプルの測定を行うことができます。また、ビーム感受性および導電性材料の使用、可変焦点とコントラスト、および様々な種類のエネルギー分散分光法（EDS）との高解像度イメージングの統合をサポートしています。これらの特徴はすべて、JEOL JSM-6500 Fを強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡にしています。マテリアルサイエンス、半導体、ナノ科学、フォレンジック、冶金など、さまざまな分野のサンプルを分析することができます。JSM 6500F走査型電子顕微鏡は、信頼性の高い正確なSEMツールを必要とするあらゆる実験室に最適なツールです。